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半导体制程量测与检测论坛
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时间: 2025-09-11 14:00 ~ 17:00
地点:
深圳市 导航
主办:

中国国际光电博览会(中国光博会)

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活动介绍

会议背景

在半导体行业迈向 “后摩尔时代” 的进程中,半导体检测技术正经历着深刻的变革。随着集成电路封装工艺的关键尺寸持续向微缩化、结构三维空间化发展,生产过程中的良率压力急剧增大,这使得检测设备及检测技术的更新换代成为产业发展的关键。与其他视觉检测设备相比,半导体工艺检测设备不仅依赖大量复杂光学原理,技术门槛极高,而且需要大量资金投入,投资回报周期较长。更为重要的是,设备的国产化率成为制约整个行业发展的技术瓶颈。在全球半导体产业竞争日益激烈的背景下,中国半导体机器视觉产业将加速国产化替代进程。国内企业将加大研发投入,提升技术创新能力,不断缩小与国际先进水平的差距。同时,产业生态建设将得到进一步加强,通过产学研用的紧密合作,完善半导体机器视觉产业链,提高产业的整体竞争力。这将有助于中国半导体产业摆脱对国外技术和设备的依赖,实现自主可控的可持续发展。
本论坛将邀请武汉精测、麦克奥迪、苏州维嘉、中科卓尔等企业,就半导体前道及中道先进封装的2D/3D检测、计算成像、关键尺寸测量等技术进行分享,为加速半导体检测智能化与自动化水平的提升,推进国产化替代与产业生态建设、以及推动中国半导体检测技术的创新和产业发展,为中国半导体产业的持续进步贡献力量。

会议信息

时间:2025/09/11 下午

地点:中国‧深圳国际会展中心(宝安)5号馆二楼5C

预计规模:80--120人

主办单位

香港应用科技研究院

中国国际光电博览会 (CIOE中国光博会)

承办单位
深圳贺戎博闻展览有限公司

会议议程

待后续更新......

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