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【分析】结合滚环扩增反应和聚集诱导发光分子检测P53基因片段的光损伤

【分析】结合滚环扩增反应和聚集诱导发光分子检测P53基因片段的光损伤 X-MOL资讯
2016-09-22
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导读:华中科技大学化学与化工学院夏帆课题组,利用聚集诱导发光分子对滚环扩增产物进行表征,从而研究紫外辐射对p53基因片段影响。

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近年来,由于环境污染影响,臭氧空洞现象日益严重,辐射到地面的紫外线越来越多。人类受到紫外线的严重辐射,容易引起基因突变甚至皮肤癌。p53基因是人类抑癌基因,超过一半的癌症都与p53基因的突变有关。引起p53基因突变的原因有紫外、红外、离子辐射、化学反应等等。


最近,华中科技大学化学与化工学院夏帆课题组研究了紫外辐射对p53基因片段影响。通过将线性的基因片段连接成环状基因,在模板以及聚合酶存在的情况下,环状DNA能够发生滚环反应,产生成千上万碱基的基因。与传统的荧光染料表征滚环产物不同的是,本实验利用聚集诱导发光(AIE)分子对产物进行表征。带正电的AIE分子溶解在水相中基本不发光具有很低的背景信号。滚环反应完成后,带正电的AIE分子聚集在带负电的DNA骨架上,产生很强的荧光信号。一旦环状DNA受到紫外辐射的损伤,滚环反应将受到限制,荧光信号弱。基于此方法能够灵敏地检测了紫外对p53基因片段的损伤情况。



这一研究成果发表于《Analyst》上。


本文作者为:Xiaowen Ou, Benmei Wei, Zhenyu Zhang, Mengshi Zhang, Yuan Zhuang, Pengcheng Gao, Xiaoding Lou, Fan Xia, Ben Zhong Tang

http://pubs.rsc.org/en/Content/ArticleLanding/2016/AN/C6AN00831C 

Detection of UVA/UVC-induced damage of p53 fragment by rolling circle amplification with AIEgens

Analyst, 2016, 141, 4394-4399, DOI: 10.1039/c6an00831c


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