从厚重到轻薄，从黑白到彩色，从低分辨到高清，再到如今的4K、8K乃至更高分辨率，显示屏的发展不断突破极限。每一代新型显示技术都在给人们带来更加逼真、舒适、沉浸的视觉体验。
显示技术向高动态范围、广色域和柔性形态不断演进，其颜色准确度、亮度、对比度、响应速度及视场角等方面是影响成像质量的关键所在。
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显示屏视场角测量解决方案
精准测量其光学特性诸如视场角、亮度、色度和对比度等各项参数，是确保显示器件具备卓越光学性能的重中之重。
传统检测技术受限于速度、精度与覆盖率的矛盾，已经成为显示行业升级的瓶颈。
1 无法完成全空间视场角测试
传统测量方式只能进行水平和垂直两个方向的视场角测试；由于测试数据缺失，不能对样品进行全面评价
2 测试速度非常慢，测量误差
完成一次测试通常需要20~30分钟，既效率低也不能适用于产线测试；由于屏幕亮度和颜色会随时间波动，长时间测试带入稳定性误差
3 大视场角度下容易对偏，复现性差
对偏后带来测量误差；很难复现大角度下的测量结果
4 调整装夹样品难度大
费时费力，特别是大尺寸样品，形状不规则样品
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显示屏视场角测量解决方案
千宇光学的显示屏视场角测试仪 VAM-88采用超精密的光学设计及高分辨率图像传感器，让全空间视场角、亮色度和角度分布、对比度和角度分布等核心参数无处遁形。
●全空间视场角测试
通过超精密光学设计，一次性收集全空间角度光强信息；极快的测试速度，数秒内可以完成全空间项目测试
●光谱测量与图像测量功能相结合
使用光谱法对亮度和颜色进行测量，100%匹配CIE视觉函数，高精度绝对值测量；高分辨率图像传感器，角度分辨率达到0.1°
● 可搭载在自动化机台上，实现自动测试
适应测试各种尺寸显示屏，4英寸~120英寸，乃至更大；轻量型设计，方便搭载固定；根据客户需求定制开发
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千宇光学
千宇光学专注于偏振光学应用、光学解析、光电探测器和光学检测仪器的研发与制造。核心事业涵盖光电材料、光学显示、半导体、VR/AR等行业
千宇光学研发中心由光学博士专家团队组成，掌握独立自主的光学检测技术,测试结果可溯源至国家计量标准。千宇以提供高价值产品及服务为发展原动力，通过持续输出高速度、高精度、高稳定的光学检测技术，优化产品品质，成为精密光学产业最有价值的合作伙伴
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