1.项目介绍
AFM 的核心原理是:将一个极细的探针(针尖半径通常为几纳米到几十纳米)固定在弹性微悬臂梁的一端,当探针接近样品表面时,针尖与样品表面原子间产生微弱的相互作用力(吸引力或排斥力),导致悬臂梁发生微小弯曲(纳米级形变)。通过光学检测系统(如激光反射法)捕捉悬臂梁的形变,再由反馈系统实时调整探针与样品的距离,使作用力保持恒定,同时扫描系统驱动探针或样品进行二维扫描,最终将扫描过程中探针的位置变化转化为样品表面的三维形貌图像。
2.测试项目
探针与样品表面持续接触,通过悬臂梁的弯曲变化获取形貌信息;适用于硬样品(如硅片、金属)的高分辨率成像,但可能对软样品(如生物细胞)造成损伤。探针在样品表面上方几纳米到几十纳米处振动,通过针尖与样品间的长程吸引力(如范德华力)探测形貌;适用于软样品、易损伤样品(如聚合物、生物膜),避免了探针对样品的刮擦,但分辨率略低于接触模式。探针以一定频率振动,针尖周期性地轻敲样品表面,通过振动振幅或相位的变化获取形貌;兼顾了接触模式的高分辨率和非接触模式对样品的低损伤,是最常用的模式之一,适用于大多数软硬样品。生成样品表面的三维高度图,可定量分析表面粗糙度(Ra、RMS)、台阶高度、颗粒尺寸(直径、高度)、孔径及深度等参数。
3.样品要求
样品尺寸:通常要求样品基底为平整的薄片或块状,直径一般不超过 15mm(部分仪器可兼容更大尺寸),厚度不超过 10mm,确保能稳定固定在样品台上。
稳定性:样品需牢固附着在基底上(如通过胶水、导电胶固定),避免扫描过程中发生移动或脱落(如粉末样品需压片或分散后固定)。
表面平整度:样品表面的宏观起伏不宜过大(建议不超过 10μm),否则可能导致探针碰撞样品或无法完整扫描。
清洁度:样品表面需无明显灰尘、油污、纤维等杂质,以免干扰成像(可通过超声清洗、氮气吹干等方式预处理)。
4. 测试周期
① 常规样品平均测试周期:到样1~3天,无需加急。
② 特殊样品:以协商周期为准。
5. 测试价格
完成之后根据科研检测服务人员提供的账号进入订单系统:
http://customer.sainanecv.com
实时查询订单状态、数据下载、报销资料下载、争议数据复测等。
服务微信:SNCS-666
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