1.项目介绍
透射电子显微镜（TEM）是一种利用电子束穿透样品并通过电子透镜成像的高分辨率显微分析技术，能够在原子尺度上观察材料的微观结构、晶体缺陷、化学成分分布等，广泛应用于材料科学、生物学、纳米技术、地质学等领域
2.测试项目
高分辨率成像（HRTEM）：直接观察样品的原子排列，确定晶格间距、晶体取向。
明场 / 暗场成像：明场像中，散射电子少的区域（如晶体完整区）较亮；暗场像则相反，可突出缺陷或第二相颗粒；。
选区形貌观察：通过选区光阑选择特定区域，观察局部微观形貌（如纳米线、薄膜截面）。
选区电子衍射（SAED）：对选定微区进行衍射分析，确定晶体结构（如立方、六方）、物相组成、晶粒取向关系。
会聚束电子衍射（CBED）：分析晶体对称性、点阵常数、应变分布。
高角环形暗场扫描透射成像（HAADF-STEM）：通过原子序数差异成像，实现 “Z 衬度” 分析，直观区分不同元素的分布。
能量色散 X 射线光谱（EDS）：结合 STEM 模式，对微区进行元素定性、定量分析及分布 mapping（如元素面分布、线分布）。
电子能量损失谱（EELS）：分析轻元素（如 C、N、O）的化学状态、价态及近邻结构。
3.样品要求
常规样品：厚度需控制在 50-200nm（金属、陶瓷等高密度材料建议 < 100nm，生物样品可稍厚但需 < 200nm），确保电子束能穿透；
高分辨率成像样品：需薄至 10-50nm，减少电子束散射干扰，保证原子级分辨率。
固体样品：需加工成直径≤3mm 的薄片（适配 TEM 样品杆），或分散成纳米颗粒 / 粉末；
液体样品：需通过制样支持膜（如碳膜、氮化硅膜）承载，浓度适中（避免团聚）；薄膜 / 涂层样品：通常制备截面样品（通过聚焦离子束 FIB 或机械减薄），观察厚度及界面结构。
样品需清洁，无油污、灰尘等杂质（否则会干扰成像和分析）；
需在电子束照射下稳定，避免分解、挥发或结构变化（如易潮解、高温分解的样品需特殊处理）；
不含有毒、放射性或腐蚀性成分（保障仪器安全和操作人员健康）
4. 测试周期
① 常规样品平均测试周期：到样1~3天，无需加急。
② 特殊样品：以协商周期为准。
5. 测试价格
完成之后根据科研检测服务人员提供的账号进入订单系统：
http://customer.sainanecv.com
实时查询订单状态、数据下载、报销资料下载、争议数据复测等。
服务微信：SNCS-666
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