赛纳新材：一家技术研发服务平台，专注智能化“共享实验室”建设。
湖南赛纳新材料科技有限公司（以下简称“赛纳新材”）积极响应号召，以产业需求为导向，“专业支撑、高效协同、开放共赢”为宗旨，面向高校、科研机构、科技企业及初创团队，提供覆盖研发全周期的一站式解决方案，全力助推区域科技创新和产业升级。倾力打造“一站式科研服务平台”与“共享实验室”，通过创新实验室运营模式，构建起“1个核心实验室+8个协作节点+34个开放站点”的立体化科研服务体系，为行业头部企业提供坚实技术支撑，有力推动合作项目实现本地转化，为区域产业高质量发展注入新动能。
还在为科研检测费用紧张而发愁吗？
还在为寻找
质量优、周期短且价格低的检测机构/平台
而四处奔波吗？
第三方检测耗时费钱，
学校设备排队漫长、项目有限...
这几乎是每一位科研人都经历过的真实困境！
好消息来了！
为助力科研创新与产业孵化，
赛纳新材
现面向
高校研究团队、初创科技公司、地方孵化器项目
正式对外开放科研检测平台！
享受专业、高效、极具性价比的
仪器设备分析检测服务！
价格仅为市场价的约 1/3 ！
一、球差电镜的工作原理
球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。在光学透镜中，可通过将凸透镜和凹透镜组合使用来减少由凸透镜边缘汇聚能力强中心汇聚能力弱所致的所有的光线（电子）无法会聚到一个焦点的缺点，可对于电磁透镜，由于没有凹透镜，球差便成了影响TEM分辨率最主要也最难解决的问题。用球差校正装置扮演凹透镜修正球差的透射电镜即为球差透射电镜。
1. 球面像差的成因
球差电镜的成像原理与传统TEM相似，但引入了球差校正装置。电子束从电子枪发射后，经过电磁透镜聚焦到样品上。在样品中，电子与原子相互作用，产生散射电子。这些散射电子经过物镜、中间镜和投影镜的放大后，形成最终的图像。球差校正装置通过精确调制电子束，抵消球面像差的影响，从而提高图像的分辨率。
2. 校正技术
通过六极/八极校正器产生反向像差场，抵消球差效应，比如：
1）硬件校正：在物镜/聚光镜附近安装动态调节的校正器，实时优化电子束路径。
2）软件辅助：结合自适应算法和电子全息术，精确测量并调整校正参数。
Schematic diagram of Cs-TEM without Cs-corrected（左边）,with Cs-corrected（右边）
3. 分辨率突破
球差校正后，电镜分辨率可达0.5 Å以下，甚至达到0.06nm，能够直接观测单原子层结构，如石墨烯中的碳原子空位。
4. 低电压成像
80 kV加速电压下仍保持高分辨率，减少对生物样品或二维材料的损伤。
5. 核心组件
|
|
|
|
|
场发射枪（FEG）提供高相干电子束（能量分散<0.3eV） |
|
球差校正器 |
位于聚光镜（STEM模式）或物镜（TEM模式）附近，含 12~20 个独立激励线圈 |
|
探测器系统 |
HAADF（Z衬度）、ABF（轻元素）、EDX（元素分析）、EELS（电子能量损失谱） |
环境控制 |
超高压真空(<10-7Pa)、防震系统(频率<1Hz) |
二、球差电镜的类型
由于TEM分为普通的TEM和用于精细结构成像的STEM，故球差电镜也可分为AC-TEM（球差校正器安装在物镜位置）和AC-STEM （球差校正装置安装在聚光镜位置）。此外，还有在一台TEM上同时安装两个校正器，同时校正汇聚束和成像的双球差校正TEM。
1. 物镜球差校正扫描透射电镜
（AC-TEM）
校正器安装在物镜位置，适用于传统透射模式（TEM）。通过消除物镜球差，显著提高相位衬度分辨率，适用于高分辨晶格成像和原位动态观察。
2. 聚光镜球差校正扫描透射电镜（AC-STEM）
校正器位于聚光镜位置，适用于扫描透射模式（STEM）。结合高角环形暗场（HAADF）探测器，可实现原子序数衬度（Z衬度）成像，精准定位不同元素的原子位置。
3. 双球差校正器电镜
同时配备物镜和聚光镜校正器，可灵活切换成像模式，支持更复杂的原位实验（如：加热、拉伸等）。
核心区别对比：
|
|
|
|
成像方式 |
探针扫描（点照明） |
平行光照明（面成像） |
衬度机制 |
Z-衬度（原子序数相关） |
相位衬度（轻元素敏感） |
电子计量控制 |
局部高剂量（可能造成样品损伤） |
剂量均匀，不易损伤 |
元素分析能力 |
强（结合eds/eels） |
需配合能谱仪 |
技术选择建议 |
① 需求原子级元素成分映射（如：催化剂、合金等） ② 样品耐电子束能力强（无机材料） |
|
元素分析中，EDS（能量色散 X 射线光谱）和 EELS（电子能量损失谱）是两种常用技术。二者均需在STEM（扫描透射电子显微镜）模式下运行，且都能通过Mapping分析生成特定区域的元素分布图像，但适用的元素类型存在明显差异：
① EDS更适合分析原子量较大的重元素；
② EELS则在轻元素检测中表现更优。
具体来看，EDS 的能量分辨率为 130eV，检测范围覆盖硼（B）及之后的元素，不过通常从钠（Na）开始，检测结果的准确性会显著提升；EELS 的能量分辨率更高，达到 0.7 eV，理论上可检测锂（Li）及之后的元素，实际应用中对碳（C）、氮（N）、氧（O）、氟（F）、锰（Mn）、铁（Fe）、镍（Ni）、铜（Cu）等元素的检测较为常见。不过，部分元素因特征峰位于高能区，信号识别难度较大，检测精度会受到影响。
三、球差电镜的应用领域
1. 材料科学
1）二维材料缺陷：直接观测MoS₂中硫空位的原子重构。
2）界面原子扩散：Al/Si异质结界面处的原子互混行为。
2. 催化研究
1）单原子催化剂：识别Fe-N₄位点在石墨烯载体上的精确配位环境。
2）反应机理：CO氧化反应中Pt纳米颗粒表面氧空位动态演变。
3. 能源材料
1）锂电正极：LiNi₀.₈Mn₀.₁Co₀.₁O₂（NMC811）充放电过程中的相变与裂纹起源。
2）光伏材料：钙钛矿中卤素空位的直接成像。
4. 生物学
冷冻电镜联用
：结合球差校正STEM解析核糖体-抗生素复合物的结合位点（3.5 Å分辨率）。
四、球差电镜的样品准备方法
1. 粉末样品请提供10mg左右。
2. 块体用FIB制样，厚度30nm左右。
3. 液体1ml左右，一般不建议寄送液体样品，除非颗粒太小没法离心干燥。
4. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。
5. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样。
6. 拍摄前建议先做TEM筛样，提前上透射看一下样品是否符合预期、是否有薄区可以拍摄球差。如果不提前筛样，拍摄中可能会出现样品基底厚度偏厚，结晶性差，无法拍摄出清晰的原子像或单原子。
7. 可提供云视频测试服务。
五、球差电镜样品制备须知
若需观察样品的原子级结构，同时明确原子对应的元素种类（例如纳米晶体催化剂的原子排布及元素组成），球差校正扫描透射电子显微镜（AC - STEM）会是理想选择。而若研究重点是样品的形貌特征、电子衍射图案，或是需要在 TEM 中进行原位反应观测，那么物镜校正型球差校正透射电子显微镜（ACTEM）则更为适用。
在开展测试前，建议充分了解样品性质，并将相关信息准确告知测试人员。其中，先用普通高分辨TEM对样品进行预观察是必不可少的步骤。通过预观察，需明确并记录以下关键信息：
1. 样品浓度是否处于合适范围，目标观测位点的数量是否充足，这是保证测试能获取有效数据的基础。
2. 确定样品在测试电压下的稳定性，进而选定合适的测试电压。不少样品在电子束照射时，会出现电荷积累（常见于导电性较差的样品）、结构改变（由电子束的 knock-on效应引发）等问题，提前明确稳定性可避免测试中样品失效。
3. 观察测试目标的具体性状。比如若要测试复合结构中纳米颗粒的原子结构，需确认这些纳米颗粒是否被其他物质包覆。洁净的样品是实现高分辨率成像的前提。
4. 确定样品的预处理方式，明确测试前是否需要进行加热等预处理操作。
5. 拍摄足够数量的高分辨照片，并标注出需要进一步细致观察的特征位点。
六、球差电镜的常见问答解析
1. 非晶样品，拍摄过程，加速电压需要调么？
非晶样品如果不耐电子辐照，测试之前可以降压到60kV或者80kV，降低电压，仪器的分辨率会降低。
2. 这个stem模式对样品厚度要求多少呢？
STEM模式的时候，样品厚度影响不大。如果要拍原子相，原子相所在的区域厚度尽量小于50nm。
3. 衍射斑点跟普通电镜一样吗？怎么分析？
球差的衍射斑点跟普通高分辨电镜的衍射斑点一样的。
4. TEM、STEM和球差是三种透射模式吗？
TEM和STEM是两种成像模式，球差是影响电镜分辨率的一个影响因素。
5. SEM和TEM的EDS分析区域大小和分析精度的比较？
SEM分析区域比TEM大，球差电镜可以做原子级别的元素分析，SEM分析精度要低于TEM。
6. 如何提前判断样品是否耐辐照？
首先看看样品是否含有有机成分，一般有机成分不耐电子辐照。如果样品暴露在空气中容易被氧化，HAADF-STEM模式拍的时候也会有发白的现象。样品在拍球差之前可以先拍TEM，TEM看到不耐辐照，球差肯定也有这种现象。
7. 为什么样品表面会积碳，积碳对拍摄有什么影响？
样品中含有有机物的，或者样品吸附空气中污染物；积碳会影响STEM模式的拍摄效果，视野模糊不清，没法拍摄出清晰的图片。
8. 如何提前判断样品是否耐辐照?
首先看样品是否含有有机成分，一般有机成分不耐电子辐照。如果样品暴露在空气中容易被氧化，HAADF-STEM模式拍的时候也会有发白的现象。样品在拍球差之前可以先拍TEM，TEM看到不耐辐照，球差肯定也有这种现象。可以通过采用低压模式，降低电子剂量进行尝试。
9. 如何判断样品是否是单原子？
如果样品的基底是轻元素，负载的单原子是某一种重元素，那么拍的亮点就是该重元素的单原子。如果单原子元素和基底元素原子序数相差不大，就很难区分是否拍到单原子。
10. 拍摄单原子，为什么整片区域都是很亮的，看不清单个原子？
样品太厚，或者负载量太大了，就很难区分单个的单原子亮点。
11. 拍原子分辨率的mapping和eels，对样品有什么要求？
原子相要求样品很薄，样品薄的话能谱信号和eels号会比较弱，不利于收集信号。那就要求样品很薄，很稳定，能长时间收集信号，且要求原子序数都比较大的。一般样品很难同时符合这几个要求。
别再让高昂的检测成本阻碍您的研究步伐！
选择 赛纳科研检测平台，
用市场 1/3 的价格，
享受 一流的检测服务！
无论是您手头亟待表征的样品，
还是即将启动的研究项目，
现在就是联系我们的最佳时机！
助力科研，赋能创新，我们与您同行！
【科研检测项目价格 & 完整分析检测仪器清单】
1. 显微成像
1）科研检测-显微成像
微观结构是材料性能的根源。我们的显微成像服务，助您看清材料的“容貌”与“肌理”。
2）科研检测项目
扫描电子显微镜（SEM测试）、透射电子显微镜（TEM测试）、原子力显微镜（AFM测试）、扫描隧道显微镜（STM测试）、 电子背散射衍射（EBSD测试）、电子探针显微分析（EPMA测试）、激光共聚焦显微镜（CLSM测试）、环境扫描电镜（ESEM测试）、生物冷冻扫描电镜（Cryo-SEM测试）、矿物自动分析仪（MLA测试）、三维X射线显微镜（XRM测试/显微CT）、超景深显微镜（Keyence VHX-7000）、倒置荧光显微镜（FM测试）、负染色技术（磷钨酸染色、醋酸铀染色）、金相显微镜（Leica DM6M）、白光三维光学显微镜（3D光学轮廓仪）、偏光显微镜（Leica Visoria P）等。
3）能为您做什么
观察表面形貌、断口分析、粒度统计、涂层厚度测量、内部缺陷无损检测等。
4）部分项目报价
2. 结构分析
1）科研检测-结构分析
物质的晶体结构决定了其核心性质。我们的结构分析服务，为您精确解析物质的“基因序列”。
2）科研检测项目
X-射线衍射（XRD）、单晶衍射（XRD）、X射线全岩定量分析（XRD）、掠入射XRD（GIXRD）、极图/宏观织构测试（XRD）、微区XRD、高分辨XRD（HRXRD）、X射线光电子能谱（XPS）、紫外光电子能谱（UPS）、小角散射/广角散射（SAXS/WAXS）、傅里叶红外光谱（FTIR）、显微红外、纳米红外（AFM-IR）、拉曼光谱（Raman）、偏振拉曼测试、圆二色光谱仪（CD）、稳态/瞬态荧光光谱（PL）、拉曼-荧光联用、SEM-拉曼联用、亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统（O-PTIR）、紫外可见近红外光谱（UV/VIS/NIR）、原位（变温）紫外光谱、红外反射率/透过率/发射率/漫反射测试、电子自旋共振波谱（ESR/EPR）、液体核磁共振（NMR）、高温/低温液体核磁（NMR）、固体核磁共振（SSNMR）、低场核磁共振成像系统（MRI）、正电子湮灭寿命谱仪（PAT）、和频振动光谱（SFG）、太赫兹时域光谱仪（TDS）、泡压法膜孔径分析仪、多组分竞争吸附仪（穿透曲线分析仪）、位错密度测试、二次谐波（SHG）、圆偏振荧光光谱仪（CPL）、阴极荧光光谱（SEM-CL）、化纤长丝热收缩仪、纤维声速取向测试仪、纱线强伸度仪、缕纱测长仪等。
3）能为您做什么
物相鉴定、晶粒取向分析、残余应力测定、晶体结构解析等。
4）部分项目报价
3. 成分分析
1）科研检测-成分分析
材料由什么组成？元素如何分布？成分分析给您最准确的答案。
2）科研检测项目
X射线光电子能谱（XPS测试）、X射线荧光光谱（XRF测试）、电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES测试）、电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS测试）、静态二次离子质谱（TOF-SIMS测试）、全自动氨基酸分析仪（HITACHI LA8080）、有机元素分析仪（EA测试）、离子色谱仪（IC测试）、总有机碳/总无机碳/总氮/需氧量分析仪（TOC/TIC/TN/COD/BOD测试）、辉光放电质谱仪（GD-MS测试）、高分辨质谱仪（HRMS测试）、高效液相色谱（HPLC测试）、气相色谱（GC测试）、高效液相色谱-质谱联用（HPLC-MS测试）、气相色谱-质谱联用（GC-MS测试）、原子吸收光谱仪（AAS测试）、原子荧光光谱仪（AFS测试）、俄歇电子能谱（AES测试）、三维原子探针（APT测试）、动态二次离子质谱仪（D-SIMS测试）、凯氏定氮仪（丹麦FOSS KJELTEC8400）、火花直读光谱仪（德国spectro）、穆斯堡尔谱仪（MS-500）、红外碳硫仪（美国力可CS844）、煤质分析（煤工业分析）、红外测油仪（连华LH-OIL336）、氧氮氢联测仪（ONH分析）、薄层色谱仪（TLC测试）、激光诱导击穿光谱仪（LIBS测试）、气相离子迁移谱联用仪（GC-IMS测试）、液相色谱-原子荧光联用（HPLC-AFS测试）、激光剥蚀（多接收）等离子体质谱仪 [LA-(MC)-ICP-MS测试]等。
3）能为您做什么
元素种类与含量分析、元素分布Mapping、表面化学态分析、痕量元素检测等。
4）部分项目报价
4. 物性分析
1）科研检测-物性分析
材料能否扛得住压力？耐不耐磨损？其力学性能直接关系到最终产品的可靠性与寿命。我们的物性分析服务，为您提供全面的“体检报告”，量化材料的每一项力学指标。
2）科研检测项目
全自动物理吸附仪（BET测试）、全自动压汞仪（MIP测试）、化学吸附仪（TPD/TPR/TPO测试）、常温/高温凝胶色谱（GPC测试）、接触角测试（CA测试）、高温接触角（Kruss GmbH HTA）、Zeta电位及纳米粒度分析仪（DLS测试）、椭偏仪（颐光ME-L）、台阶仪（Tukon 2500）、真密度测试（G-DenPyc 2900）、雾度测试（BYK-Gardner）、高级旋转流变仪（TA Discovery HR-3）、激光粒度分析仪（Mastersizer 3000）、动态水分吸附测试仪（DVS测试）、折射率测试（Abbe Refractometer）、灰熔点测定仪（煤灰熔融性）、全自动旋光仪（Autopol IV）、纳米颗粒跟踪分析仪（NTA测试）、矿物自动分析仪（MLA测试）、毛细管流变仪（美国TA HR-30）、动态泡沫分析仪（Labthink EP-800）、气体透过率测试仪（Labthink OX2/230）、比色仪（颜色测定）、四球摩擦试验机（Labthink EP-800）、智能重量分析仪（IGA测试）等。
3）能为您做什么
拉伸/压缩/弯曲强度测试、弹性模量测定、硬度测试、断裂韧性测试、摩擦系数与磨损率测定、冲击韧性测试等。
4）部分项目报价
5. 热学性能
1）科研检测-热学性能
温度变化下，材料是稳定还是分解？会吸热还是放热？热学性能决定了产品的应用环境与加工工艺。我们助您摸清材料的“冷热脾性”，为工艺优化和应用边界提供关键数据。
2）科研检测项目
热重分析（TG-DTG）、差示扫描量热仪（DSC）、同步热分析仪（TG-DSC）、热重质谱联用仪（TG-MS，≤1100℃）、热重红外联用（TG-IR）、同步热分析-红外-质谱联用（TG-IR-MS）、热重-红外-气相色谱质谱（TG-FTIR-GCMS）、傅里叶变换离子回旋共振质谱（FT-ICR-MS测试）、动态热机械（DMA）、静态热机械分析（TMA）、激光导热仪（NETZSCH LFA 457）、HotDisk热常数分析（导热系数）、热裂解/热脱附气相色谱－质谱联用仪（Py/TD-GC-MS）、热模拟实验机（Gleeble）、热膨胀分析仪（NETZSCH DIL402C）、锥形量热仪（英国FTT0007）、临界氧指数分析仪（英国FTT0007）热变形维卡软化点试验机（Leica DM6M）、水平垂直燃烧测定仪（英国FTT0082）、熔融指数仪（XNR-400C）、灰熔点测定仪（HJHR-6000）、水泥水化分析（TAM Air 八通道微量热仪）、灼热丝试验仪（TTech-GBT5169-10A）等。
3）能为您做什么
玻璃化转变温度、熔点、结晶温度、热焓值测定、热稳定性与分解温度分析、热膨胀系数、动态模量、导热性能测试等。
4）部分项目报价
6. 声光电磁
1）科研检测-声光电磁
对于功能材料而言，其声、光、电、磁等特性才是核心价值所在。我们的检测平台致力于精准量化这些特殊性能，为您的功能材料研发、新能源、电子信息等领域的研究提供强大支撑。
2）科研检测项目
振动样品强计（VSM）、物性综合测量系统（PPMS测试）、表面光电压谱仪（SPV测试）、压电常数测试（D33测试）、宽频介电常数测试仪（Agilent 4294A）、铁电压电分析仪（德国ACIX TF2000E）、霍尔效应测试系统（HMS-7000）、塞贝克系数（第一热电效应）、固体/薄膜表面Zeta电位仪（Anton Paar surpass3）、椭偏仪（颐光ME-L）、飞秒瞬态吸收（fs-TAS测试）、电阻率测试仪（ST2258C 四探针）、击穿电压试验仪（BDJC-50kV）、阻抗分析仪（Agilent 4294A）、电化学分析仪（辰华CHI600E）、四探针测试仪（ST2258C四探针）、电池性能测试（武汉蓝电电子CT2001）、矢量网络分析仪（VNA测试）、电导率（粉末、液体、离子）（BEC-307）、声学性能测试系统（阻抗管测试）、残余应力（理学SmartLab）、半导体光电测试（Zahner PP211）、变温荧光光谱（爱丁堡FLS1000）、强制调制光电流谱（IMPS测试）、超导量子干涉磁测量（SQUID测试）、外量子效率（IPCE/EQE测试）、多功能缺陷荧光光谱仪（热释光三维光谱）、热刺激电流仪（TSC测试）、磁致伸缩系数测量系统（TS3300）、扫描电化学显微镜（SECM测试）等。
3）能为您做什么
介电常数/损耗测试、电阻率/IV曲线测试、磁滞回线分析、铁电性能测试、光谱透射/反射/吸收分析、隔声/吸声性能测试等。
4）部分项目报价
6.① 常规样品平均测试周期：到样1~3天，无需加急。
② 特殊样品：以协商周期为准。
完成之后根据科研检测服务人员提供的账号进入订单系统：
http://customer.sainanecv.com
实时查询订单状态、数据下载、报销资料下载、争议数据复测等。
服务微信：SNCS-666
湖南赛纳新材料科技有限公司（以下简称“赛纳新材”）积极响应号召，以产业需求为导向，“专业支撑、高效协同、开放共赢”为宗旨，面向高校、科研机构、科技企业及初创团队，提供覆盖研发全周期的一站式解决方案，全力助推区域科技创新和产业升级。倾力打造“一站式科研服务平台”与“共享实验室”，通过创新实验室运营模式，构建起“1个核心实验室+8个协作节点+34个开放站点”的立体化科研服务体系，为行业头部企业提供坚实技术支撑，有力推动合作项目实现本地转化，为区域产业高质量发展注入新动能。
【服务体系】
赛纳新材的三大实验室模式，是立体化服务体系的核心支撑，各有侧重、协同发力：
1. 锂电共享实验室（核心共建）
聚焦锂电池材料领域，整合配置具有市场竞争力的专业实验设备，为锂电制造企业提供精准、高效的技术服务，助力企业攻克研发难题，提升产品核心竞争力。
2. 科研检测实验室（协作节点）
深化与高校院所的合作，创新资源盘活模式，借助市场化运作机制，深度挖掘合作伙伴仪器设备与实验设施的利用价值，实现科研资源的优化配置与高效共享。
3. 产业业态实验室（开放站点）
以开放姿态构建产业生态，制定标准化技术服务流程，为合作伙伴提供便捷化检测支持，可实现24~72小时快速交付检测数据，助力企业及时响应市场需求，提升研发与生产效率。
【核心优势】
在提供优质检测服务的基础上，赛纳新材更致力于打造开放、协同、高效的研发生态，为产业创新发展提供多维度支撑：
1. 降低研发成本
企业无需投入大量资金自建实验室，通过共享平台即可获取专业资源，尤其为中小型企业与初创团队减轻研发负担，让创新活力充分释放。
2. 加速技术验证
帮助企业快速接入专业科研检测资源，缩短技术验证周期，提高研发决策效率，推动技术成果更快从实验室走向市场。
3. 推动成果转化
构建 “仪器共享+检测服务+成果转化” 的闭环服务模式，打通从技术研发到产业应用的关键环节，助力科研项目落地转化，实现产业化价值。
4. 共建创新网络
积极联动政府、创投基金、产业链企业等多方主体，共同打造研发公共服务平台，整合各方资源优势，形成创新合力，为产业创新发展搭建更广阔的合作平台。
【办公地址】
长沙经济开发区人民东路二段189号中部智谷7栋3楼
■免责声明：本公众号致力于服务全体科研人员，分享科研检测相关内容，仅供参考学习。所有转载内容，均不代表『赛纳新材测试服务』赞同其观点和立场，不能完全保证其准确性和真实性。如若本公众号侵犯媒体或个人知识产权，请联系删除。
