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在材料科学等科研领域，精准的检测分析是揭示物质特性、推动技术突破的关键。湖南赛纳新材料科技有限公司依托专业设备与技术团队，提供覆盖多维度的科研检测服务，从微观形貌观测到综合性能评估。在我们的后台常收到留言：“你们分享的测试方案很实用，能不能直接帮我们做”？“公司有款新产品，想找专业团队做全项性能验证，你们接吗”？每次看到这类提问，都想立刻把我们的 “科研服务清单” 摊开给大家看 ——毕竟比起纸上谈兵的干货，能实实在在帮大家解决研发、测试里的难题，才是我们最核心的价值。今天就不绕弯子，让看看我们到底能提供哪些测试服务，一起带你们一探究竟！
【科研检测】
通过光学显微镜、SEM、TEM、AFM等设备，实现微米至纳米级微观形貌观测，呈现材料颗粒大小、形貌、表面粗糙度及内部缺陷，为工艺优化与失效排查提供直观图像依据。具体测试项目如下：
1）扫描电子显微镜（SEM测试）：主要用于观察样品表面的微观形貌和结构，提供高分辨率的三维立体图像。
2）透射电子显微镜（TEM测试）：用于观察样品的内部微观结构，如晶体缺陷、纳米颗粒形貌、甚至原子像，可进行成分分析。
3）原子力显微镜（AFM测试）：用于表征样品表面的三维纳米级形貌，并可测量表面的力学、电学、磁性等物理性质。
4）扫描隧道显微镜（STM测试）：主要用于观测物质表面原子排列结构，并可对单个原子分子进行操纵，是表面科学和纳米技术研究的重要工具。
5）电子背散射衍射（EBSD测试）：主要用于材料的晶体学分析，包括晶粒取向、相鉴定、晶界分布和应变测量等。
6）电子探针显微分析（EPMA测试）：主要用于材料科学、地质学等领域，精确分析矿物、金属、陶瓷等样品中元素的种类、含量及二维分布，为研究微观结构与成分关系提供关键数据。
7）激光共聚焦显微镜（CLSM测试）：主要用于对荧光标记的厚样品进行无损的光学切片、三维重建以及动态生理过程的观测。
8）环境扫描电镜（ESEM测试）：可观察活体细胞、陶瓷烧结、高分子变化等动态过程，克服了传统电镜对样品干燥与导电要求的限制。
9）生物冷冻扫描电镜（Cryo-SEM测试）：用于观察对电子束敏感或含挥发性成分的样品，如未染色的生物组织、细胞器及多孔材料等。
10）矿物自动分析仪（MLA测试）：快速提供矿石工艺矿物学参数，为矿产评估、选矿流程优化和资源高效利用提供关键数据支撑。
11）三维X射线显微镜（XRM测试/显微CT）：用于精确分析材料内部孔隙裂纹、电池电极结构、生物组织微细形态等。
12）超景深显微镜（Keyence VHX-7000）：支持快速缺陷分析、微观测量与真彩还原，显著提升检测效率与科研精度。
13）倒置荧光显微镜（FM测试）：主要用于观察活体细胞、组织培养等底部贴壁样本，可无损进行长期动态成像，广泛应用于细胞生物学、微生物学等领域的实时研究。
14）负染色技术（磷钨酸染色、醋酸铀染色）：主要用于增强病毒、细菌及生物大分子的对比度，无需复杂处理即可清晰呈现其外部轮廓和表面特征，是形态学研究中的快速制样方法。
15）金相显微镜（Leica DM6M）：用于金属材料的显微组织分析、晶粒度测定、相组成观察以及表面缺陷检测等。
16）白光三维光学显微镜（3D光学轮廓仪）：用于微纳尺度形貌、粗糙度及膜厚测量，广泛应用于半导体、材料及精密制造领域的质量控制与研发分析。
17）偏光显微镜（Leica Visoria P）：应用于地质学分析矿物组分，在材料科学、化工等领域用于检测聚合物、液晶及半导体材料的晶体形态与内部应力。
借助XRD、SAXS、TEM成像等技术，精准解析材料晶体结构、相组成与空间排布，确定晶格参数、晶粒尺寸，建立“结构-性能”关联，支撑材料功能机制研究与性能优化。具体测试项目如下：
1）X-射线衍射（XRD）：物相、晶体结构分析，测定晶胞参数、结晶度、应力，是晶体材料结构表征的核心手段。
2）单晶衍射（XRD）：可精确测定晶体原子三维坐标、键长键角及分子构型，是解析物质微观结构的核心手段。
3）X射线全岩定量分析（XRD）：XRD通过晶体衍射图谱，快速准确鉴定岩石矿物组成及各组分比例，实现全岩定量分析。
4）掠入射XRD（GIXRD）：专用于分析薄膜表面、界面结构，对表层物相与结晶度极为敏感，是表征纳米薄膜材料的非破坏性重要技术。
5）极图/宏观织构测试（XRD）：极图通过XRD测定多晶材料中各晶粒的取向分布，用于揭示织构类型、强度及各向异性，是优化材料性能的关键分析手段。
6）微区XRD：微区XRD可对样品微米区域进行快速物相鉴定与结构分析，是材料微区表征的利器。
7）高分辨XRD（HRXRD）：用于精确表征单晶外延薄膜的晶体结构、厚度、应变、弛豫度及缺陷，是半导体和先进材料研发的关键分析技术。
8）X射线光电子能谱（XPS）：表面元素成分、化学态、电子态定性定量分析，聚焦材料表面数纳米区域的化学信息。
9）紫外光电子能谱（UPS）：分析价电子结构，测定材料功函数、电离能，为研究材料电学特性提供关键数据。
10）小角散射/广角散射（SAXS/WAXS）：SAXS分析纳米结构，WAXS分析晶体结构，跨尺度表征材料结构信息。
11）傅里叶红外光谱（FTIR）：借分子振动光谱鉴定官能团，定性定量分析，是有机无机材料结构分析常规方法。