联得装备：COG/FOG COF导电粒子压痕检测方案(压痕AOI)

近年来，TFT LCD(薄膜场效应液晶显示器)高分辨率、高亮度、高色彩对比度特性对液晶模组生产制造检测设备提出了越来越高的要求，原先的人工搭配显微镜进行质量抽检的作业方式已经不能满足终端客户对于生产质量把控的要求。

目前，众多先进的模组大厂都先后导入了高速全自动导电粒子压痕检测设备，单位时间的产出效率和生产良率显著提高。因此，在模组整线生产流程中导入AOI全自动光学检测粒子设备已经成为整个平板显示行业发展趋势。

联得装备检测自动化事业部研发设计的导电粒子压痕检测设备(LDIC-0800A)是为模组厂提供的全自动粒子压痕检测先进智能解决方案，应用于COG/FOG COF绑定整线设备生产线，已受到某台系客户实际量产认可。

全自动粒子压痕检测先进智能解决方案：

• 采用高性能、高分辨率视觉影像硬件DALSA Line Scan Camera

• 通过高比率镜头和Analyzer,DCI Prism, Polariz Filter立体显现导电粒子阴刻阳刻获取最佳化检测粒子压痕的图像

• 采用HighPrecision变位测定感应器 OMRON（分辨率0.25um）

• 搭载高精度高速运动Linear motion单元

• 核心单元花岗岩稳固独立分体基座设计

设备从光学软体到硬件设计都经过严密科学论证，保证检测系统准确、稳定、高速移动追焦捕获面板绑定后粒子压痕。整个检测单元独立PC控制，采用Windows为操作系统，搬送移栽单元采用PLC控制，搭配独立开发的视觉检测软体，实现控制简单，运行高效，快速稳定完成导电粒子检测工艺流程。

全自动导电粒子压痕AOI

Table 1. LDIC-0800A 设备规格表

Figure 1 设备外形图

Figure 2 检测软体影像 

Figure 3 设备运行动态图GIF

联得装备检测自动化事业部简介：

检测自动化事业部(TBU)专注于应用尖端工业视觉检测技术，研发平板显示行业自动光学和电性功能测试等全系列行业智能检测设备。现有设备已经广泛运用于平板显示行业内的外观、点线画面、MURA等缺陷检测、导电粒子压痕检测、自动烧录测试、银浆阻抗等工艺流程。

事业部主要业务分成两大板块：

1.  AOI自动光学检测设备

   CG外观AOI、导电粒子压痕AOI、点灯画面API以及Panel崩边AOI等

2. FCT功能性检测设备

   OTP/CTP烧录测试设备，ART阻抗检测设备等