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干货分享|从测试角度看800V超充技术下的电驱变革

干货分享|从测试角度看800V超充技术下的电驱变革 泰克科技服务号
2023-03-27
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导读:800V新架构下的电驱技术核心是启用SiC、GaN第三代半导体器件,技术的更迭为新能源汽车带来了什么?
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新一代智能电动汽车技术发展趋势

市场调研数据显示,超过80%的用户对电动汽车的充电速度和续航里程表示不满,虽然新能源汽车市场在近几年飞速变化,但距离满足消费者心理预期的更高使用需求,尚有较大提升空间。

新的800V超充技术可以很好地解决电动汽车的里程焦虑和充电速度慢的问题,与此同时,800V超充架构的出现,也对汽车行业带来了新的技术挑战:汽车电驱系统、电控系统、车载充电器OBC、DC-DC等多个领域相关技术也需要全面提升。

800V新架构下的电驱技术核心是启用SiC、GaN第三代半导体器件,技术的更迭为新能源汽车带来了什么?


技术优势

  • 电驱动系统效率提升

  • 降低工作损耗

  • 减小体积

  • 解决里程焦虑、充电速度慢


测试挑战

  • 原有的测试仪器和方法不能满足要求

  • 对三代器件的性能不熟悉

  • 缺少基于三代器件的设计经验

  • 增加了EMI难度


工程师在800V电驱设计工作流程的每个阶段所面对的测试难题


1

核心器件评估选型

  • 静态特性与动态特性

  • 双脉冲测试

  • 高带宽电压电流采集

  • 通道传输延迟补偿

  • 功率回路寄生杂感控制

  • ATE测试系统

  • 可靠性、失效机理

  • Vth漂移

  • Rdson漂移

2

电驱产品开发

  • 高频高压共模干扰

  • 串扰

  • SOA

  • 开关损耗

  • 磁损耗

  • 环路响应

3

台架测试

  • 三相相位矢量图

  • 电流谐波

  • 效率测试

  • 趋势动态分析

  • DQ0

  • 测试设备的远程控制

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泰克助力800V新架构下的电驱系统升级

泰克提供的涵盖关键功率器件评估选型、电驱控制电路调试和电机拖动台架测试的一站式解决方案,很好地解决了三代功率半导体SiC, GaN纳秒级上升沿、高共模干扰、全桥电路安全互锁、双脉冲和三相驱动系统等测试难题,助力800V新架构下电驱系统升级。

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