展会预告
2024年11月18日：苏州
第十届国际第三代半导体论坛
暨第二十一届中国国际半导体照明论坛
展会时间：11月18-21日
展会地点：苏州国际博览中心G馆
展位号：一楼C01
国际第三代半导体论坛是第三代半导体产业在中国地区的年度盛会，是前瞻性、全球性、高层次的综合性论坛。会议以促进第三代半导体与电力电子技术、移动通信技术、紫外探测技术和应用的国际交流与合作，引领第三代半导体新兴产业的发展方向为活动宗旨，全面覆盖行业基础研究、衬底外延工艺、电力电子器件、电路与模块、下游应用的创新发展，联结产、学、研、用，提供全球范围的全产业链合作平台。
中国国际半导体照明论坛是SSL国际系列论坛在中国地区的年度盛会，SSLCHINA是半导体照明领域很具规模、参与度高、口碑好的全球性专业论坛。SSL国际系列论坛以促进半导体照明技术和应用的国际交流与合作，引领半导体照明产业的发展方向为活动宗旨，全面覆盖行业工艺装备、原材料，技术、产品与应用的创新发展，提供全球范围的全产业链合作平台，致力于拓展业界所关注的目标市场，以专业精神恒久缔造企业的商业价值。在过去的十九年里，SSLCHINA邀请了包括诺贝尔奖得主在内的全球高级专家阵容，呈现了超过2000个专业报告，累计参会代表覆盖全球70多个国家逾29000人次。
2024年12月15日：扬州
第七届全球钙钛矿与叠层电池（长三角）产业化论坛
会议时间：12月15-17日
展会地点：扬州香格里拉酒店
展位号：酒店会议厅
本次会议由中国国际科技促进会钙钛矿产业分会主办（China Perovskite PV&PE Industry Association）。该产业分会是由国务院科技
领导小组批准成立的全国性社会团体- 中国国际科技促进会（国家一级行业协会）直属行业分会。分会以钙钛矿光伏“0-1”产业化发展壮大为己任，旗下专题论坛致力于搭建覆盖钙钛矿光伏材料技术、设备技术、工艺技术、测试技术、应用技术、标准规范的交流平台。
产品简介 — Candela 缺陷检测系统
Candela®系统对化合物半导体衬底（GaN，GaAs，InP，蓝宝石，SiC等）和硬盘驱动器上的各种关键缺陷进行检测和分类，保证生产过程中检测的高灵敏度和高效率。
产品简介 — 光学轮廓仪
今年上半年，我们推出了一款为太阳能行业定制的光学轮廓仪Zeta™-Solar，可满足独特的太阳能电池金属化需求，针对先进的太阳能电池工艺金属细栅和主栅测量而设计。
这款全新的 Zeta 型号利用3D成像技术的进步简化了成像系统。提供多种XY测量台选项，可满足230mm x 230mm最新一代太阳能电池的测量需求。
>> 全新的太阳能电池检测技术，可用于晶硅太阳能电池生产和研发中的金属栅线测量。
>> 太阳能电池金属细栅和主栅高度和宽度测量(全自动化检测和分析 / 多截面分析 / 宽度、高度、高宽比和横截面积的统计分析/ 合格品/不合格品识别分析）
>> HDR功能，可优化印在超低反射率绒面的栅线测量
>> 自动拼接功能，可用于大视场(FOV) 区域测量，如主栅和栅线接触点等
>> 高清三维显示功能
>> 太阳能电池金属栅线的3D真彩色成像
>> 采用230mm x 230 mm 可编程XY 测量台，适用于最新一代太阳能电池产品
>> 产品性能：可重复性和再现性
我们丰富的光学轮廓仪系列产品涵盖多种光学测量技术，包含白光干涉技术，真彩色成像和ZDot™点阵专利技术，我们可以帮助您找到满足您测量需求的正确解决方案。Profilm3D®和Zeta™光学轮廓仪可为样品表面测量提供快速，便捷的非接触式3D表面形貌测量解决方案。
方块电阻测试仪
KLA方块电阻测试仪能够满足各种测量需求，包括：金属薄膜及背面工艺层厚度测量，衬底电阻率，方块电阻，薄膜厚度或电阻率，薄层和体材料的导电率，等等。
对于较薄的金属和离子注入层，建议采用接触式四探针(4PP)测量方法，对于较厚的金属层和柔性或软性的导电表面，建议采用非接触式涡流(EC)测量方法。
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