前言
在技术创新的驱动下，和芯半导体自主开发测试系统控制软件、数据分析工具及自动化脚本（如Python/C#），有效实现测试数据实时采集与处理、可视化及数据库的系统化管理。支持与MES/EDA系统集成，打通生产与测试环节的数据链路，构建智能化测试解决方案。
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我们的软件业务围绕半导体封测试环节，深度适配ATE测试机台、Prober/Handle设备协议，聚焦CP/FT测试全流程包括实时数据采集、良率报警、量产控制、Prober/Handler控制，构建MySQL+StarRocks混合数据仓库，实现设备协同控制-数据智能分析-生成闭环优化的一站式数字化，为客户提供生产计划、流程控制、测试监控、质量管理、设备管理等优质服务。
◦ 实时监控半导体测试全流程（如晶圆测试CP、成品测试FT），自动调度测试相关设备、监控测试任务，减少人工干预，提升量产效率。
◦精准执行测试设备指令，帮助客户提高产能，减少无效测试损耗、降低测试资源浪费。
◦ 实时抓取测试数据（如良品率、缺陷类型），通过内置算法快速分析异常，即时预警（如设备故障、工艺偏差），避免批量不良品产生。
◦ 生成可视化报表（如测试趋势、产能分布），为产线优化、良率提升提供数据支撑。
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量产实时控制软件是半导体测试环节的核心工具，本系统采用数据采集客户端与ATE测试平台深度集成，实时同步解析ATE机台测试数据流（包含测试项参数结果、分Bin结果、Site良率），毫秒级响应良率波动告警，基于自定义良率阈值（可配置多级预警机制）自动触发测试中断/续测指令，实现异常情况闭环处理，帮助客户提高产能，减少无效测试损耗、降低测试资源浪费可达40%。
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深度数据采集
客户端与ATE软件无缝集成，实现测试生命周期全链路数据捕获（TouchDown事件级精度），支持原始数据流零数据丢失（同步延迟＜200ms），同步上传至中央服务器构建测试数据库。
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智能良率管控引擎
实时计算多维良率指标，SiteYield（单点良率）、 SiteGapYield（跨站点离散度）、LotYield（批次良率），用户自定义Limit规则库，动态阈值判定，触发良率报警后0.5秒内发送暂停指令到ATE机台，邮件+Alarm弹窗报警双重通知机制（响应成功率≥99.9%）。
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报警弹窗
报警弹窗绑定专用账户体系，采用二次确认对话框（防误触），报警解除日志留存，可追溯操作人员。
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数据分析
对良率数据、分Bin数据、测试项结果数据，可视化呈现多维度的数据图表分析。
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Prober辅助调针软件是一款专为半导体CP测试中的Prober设备开发的专业软件。建立ATE-GPIB-Prober通信链路，实现精准控制（响应延迟≤0.5秒），旨在帮助工程师快速、准确地完成探针调校工作（相比传统调针效率提高60%），大大提高测试效率和质量。无论是在研发阶段对新型半导体器件的测试，还是在大规模生产中的质量控制，该软件都能发挥重要作用。
OS测试项自动化执行
支持ATE交互式/自动化双执行模式，实时映射Pin级测试结果至三维拓扑图（红/黄/绿三态分级，刷新频率≤300ms），实现可视化判读。
精密OD值定位
通过GPIB总线同步Prober微步进指令（步长精度可达1μm）与ATE DC参数采集，协同闭环控制，基于算法，实现3OD值智能判定。
实时监测与数据溯源
调针过程中，软件实时监控探针的针压、位置、型号等参数（响应延迟≤0.5秒），实时保存OS测试原始数据，缺陷定位反向追踪（Lot-ID/Prober设备号/测试机编号三键关联）。
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END
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