尊敬的Bruker客户，
我们现诚邀您参加Bruker纳米表面仪器部举办的全新的原子力显微镜（AFM）高级培训课程。为了让客户能够更好地使用我们的仪器，自2012年起我们开始举办AFM大型培训班，并在几年内积累了丰富的培训经验；根据客户反馈的各种宝贵意见和建议，我们也不断对培训课程进行优化和改进。我们还对培训过的客户的仪器使用情况进行了持续的追踪，并同客户紧密合作。在过去的几年中，公司已同这些客户合作发表了十几篇高质量的科研论文，如Nano Letters，Advanced Materials, Advanced Functional Materials, Small, JACS, PRL等。
高级培训课程是Bruker公司区别于其他原子力厂商的一次重大尝试。为了让客户真正将仪器用好，并转换为实际的科研成果和生产力，我们推出了直接面向客户科研课题的高级培训课程。在这个系列的课程中，客户与公司的应用科学家一起进行头脑风暴，真正解决科研中所遇到的难题。从去年起，根据以往客户的反馈，我们将原来集中于一个周的高级培训课程拆分成数个专题课程，使我们能有更加充裕的时间对相关知识背景和测量原理进行讲解，客户也能有更加充裕的时间用自己的样品进行上机练习，针对客户特定的科研课题也可以进行更加充分和深入的讨论，从而使得高级培训更有针对性、更加高效。
本培训课程消耗了大量工程师平时的时间来准备，不接受免费报名申请。并且本培训面向的是对仪器应用已经有相当经验的客户，请您在报名前务必仔细阅读以下课程简介、适用对象及先决条件，确保您能够学到必要的知识并能够在您的仪器上实现期望的测量。
培训地点
北京市海淀区中关村南大街11号光大国信大厦5楼培训室
培训时间
2016年6月13-17日，每天9:00-18:00
培训费用
2000元/天，全程参加的优惠价格为8000元。提供免费午餐，但晚餐及食宿自理。（普通工程师上门服务一天费用不含差旅费为4000元，而Bruker的高级培训课程仅需8000元即可让您享有与最高级别工程师一起学习一周的机会！）
汇款方式
户名 布鲁克（北京）科技有限公司
银行名称 美国银行有限公司北京分行
账号 537520412209
汇款请备注培训人员姓名。
报名方式
本邮件不支持自动回复，参加培训报名请发送邮件至lian.liu@bruker.com，邮件内容务必包含参加培训人员的以下信息：单位，姓名，电话，邮箱，机型，基础培训认证编号。或致电010-58333255咨询刘小姐。
报名成功后，用户可同时申请付款，报名席位将为您保留3个工作日，如未能收到款项，席位将无法保留，还恳请广大用户谅解。我们将在收到款项后第一时间给各位老师及同学发出确认函。
课程简介
本课程是Bruker AFM的高级课程之一。该课程重点介绍原子力显微镜各种成像模式的参数设定及其对成像质量的影响，重点讲解Tapping模式和PeakForce Tapping模式的力控制以及高分辨成像。探讨如何制备适用于成像的样品，如何选择合适的探针，如何进行正确的离线处理操作，还将探讨和演示一些困难样品的制备和测试，如粉末样品，超光滑样品，很软的样品，超粘的样品，表面带电的样品，原子级分辨等等。
课程安排
通过本课程您将学习到
Ø 基本的成像模式及其原理
Ø 成像参数及其对成像质量的影响
Ø Tapping 和 PeakForce Tapping中的力控制
Ø 探针动力学，Tapping Mode的基本原理
Ø Tapping Mode中假象的识别
Ø 高分辨成像的重要决定因素
Ø 液下操作
Ø 探针的选择及其对成像质量的影响
Ø 样品的制备及其对成像质量的影响：一般样品、粉末样品、软样品、粘样品
Ø 离线处理及数据分析
Ø 超光滑样品的测量：Low Force Tapping技术
Ø 软样品和粘样品的测量：PeakForce Tapping技术和TRmode
Ø 实现AFM的高分辨测量：噪声控制、样品清洁以及小振幅的PeakForce Tapping
Ø 带电样品的测量：PeakForce Tapping技术
Ø 原子级分辨成像：云母和HOPG的原子晶格成像
适用对象
本课程适用使用以下机型的用户：
Ø Dimension Fastscan/Dimension Icon/MultiMode 8
Ø Dimension V/MultiMode V*
Ø Legacy Dimension and Legacy MultiMode with Nanoscope III/IIIa/IV/IvaController**
Ø Dimension Edge/Innova***
*软件界面有差别，不支持PeakForce Tapping。
**软件界面有差别，不支持PeakForce Tapping。不支持Low Force Tapping。
***演示界面基于Nanoscope V控制器，与NanoDrive控制器有较大不同，不支持PeakForce Tapping。不支持Low Force Tapping。不支持TRmode。
所有的实验演示均在Dimension Fastscab/Icon和MultiMode 8上进行。其他型号的仪器原理适用，但参数可能位于软件的不同位置。
先决条件
参加该课程的客户必须有至少1年的AFM使用经验，对原子力的操作和原理非常了解。
课程形式
本课程共有9个名额，分为3个小组。每天上午为理论培训，以讲师讲解及小组讨论为主要形式；下午为上机练习，需完成预先安排的上机作业。第三天下午为认证考试及考试题目讲解及面向各自科研课题的自由讨论。
讲师简介
孙昊博士，1982年出生于山东省济南市。2010年毕业于北京大学化学与分子工程学院无机化学系，获得理学博士学位。主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。具有长达9年的原子力显微镜使用经验。现任Bruker纳米表面仪器部客户服务中心及售后服务主管，中国地区客户培训师及内部培训师。
李勇君博士，1982年出生。2011年毕业于中国科学院长春应用化学研究所，获得理学博士学位。博士期间主要从事基于原子力显微镜(AFM)的药物与细胞相互作用,以及细胞表面糖、蛋白质的分子识别成像研究。毕业后主要从事AFM相关的技术支持，客户咨询及AFM仪器维修，具有长达6年的AFM操作及维修经验。现任Bruker纳米表面仪器部客户服务中心高级技术支持工程师。
认证证书
考试合格颁发BCAU（Bruker Certified SPM Advanced User）认证证书。
客户对全新高级培训的评价
“头脑风暴式的学习过程。” ——浙江大学戴理民
“听课三天效果比自学说明书一个月的效果好很多！” ——中科院化学所刘芳慧
“深入浅出，谈笑风生。” ——东南大学王欢欢
“氛围轻松自由，收益良多。” ——中科院化学所苏萃
“内容充实，理论分析详尽，收获很大。” ——浙江理工大学徐健荃
“在不懂AFM人的面前我也算是个小牛了。” ——南京工业大学董依慧