本次报告是《二维材料界面结构与性质的原子力探针显微学研究》系列的第三次报告。在前面两次报告中，我们分别围绕AFM的电学测量模式，针对二维材料的界面电学性质，以及围绕接触AFM模式下的力学成像功能，针对二维原子晶体的晶格成像和应变结构成像来展开报告。在本次报告中，我们将针对二维材料体系的界面力学应变及其对电学性质的调控等问题，结合AFM的高分辨成像、力学与电学功能化探测模式来展开报告。
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网络讲座回播： 二维材料界面结构与性质的原子力探针显微学研究（3）- 力学结构与电学性质综合研究
Park原子力显微镜2020-12-17
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导读：本次报告是《二维材料界面结构与性质的原子力探针显微学研究》系列的第三次报告的付博视频
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帕克原子力显微镜专注于纳米显微镜和计量技术领域的AFM制造商，在半导体、光电、LED等化学、材料、物理、生命科学等行业为研究人员和工业工程师们提供全自动的定制化产品，享誉卓著。公司总部设在韩国水原，在美国，德国、新加坡、日本、中国都有子公司
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