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产品简介
X荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型，以能量特征为原理的称为能量色散型。能量色散X射线荧光光谱分析仪，配置W阳极X射线管，辐射线经过适当的准直和过滤。阳极辐射落到样品表面直径3mm的区域，激发样品所含元素的特征荧光辐射。发出的荧光辐射由热电系统冷却的高分辨Si(Li)固态探测器检测，达到更优的分辨率。来自于检测器的信号经过电子放大，然后进入多道分析器。经过系列处理，结果传入计算机分析，运用马夸特数学方法处理，根据强度，采用基本参数法并结合半经验法修正基体效应，确保高质量的定量分析。
应用领域
X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度，也可以获得各元素的含量信息。
近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于石油化工、航空航天、军工、钢铁、电站电厂、锅炉压力容器、机械制造与加工、金属回收与分类、贵金属等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。其功能包括：
1）在废金属回收中，可实现快速分拣
2）材料识别的理想工具(PMI)
3）可进行所有常见合金的分析
产品原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关。因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
产品特点
a) 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
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