【木木西里—每日仪器】NO.H-01-006 开尔文探针系统

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产品简介：

　　开尔文探针(KelvinProbe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。开尔文探针测试系统在电化学研究中是比较先进的仪器，主要围绕微区电化学的研究,可以配合原子力显微镜使用。

产品应用领域及行业：

　　（1）可测量导体材料的功函数；

　　（2）可测量半导体、绝缘表面的表面势；

　　（3）应用于吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学。

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