上海曼光信息科技有限公司扎根于中国光电产业的快速发展，专注于半导体激光器的全流程测试与分析，致力于成为国产光电芯片仿真、测试与分析领域的行业领先者。公司目前推出业内首款基于Microsoft Excel的数据分析插件，帮助用户便捷地处理和分析可靠性数据，提取如寿命等关键参数。在光电芯片及器件的可靠性测试方面，曼光已具备从测试、数据处理与分析、老化电源设备开发到失效分析的完整能力。未来，我们将继续提升技术水平，满足市场需求。
我们开发的可靠性数据分析插件基于Microsoft Excel，能够快速处理光电芯片及器件的老化数据，帮助用户便捷地进行分析和计算。插件可以生成外推寿命、失效时间、失效率和加速模型等关键参数。具备用户友好、低学习成本、图表化展示等优点。
序号
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模块名称
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功能描述
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1
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数据处理
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对原始数据前处理，包括滤波和平滑，剔除异常值并对数据进行平滑操作
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2
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数据外推
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采用内置的指数函数、幂函数和多项式函数等对数据进行拟合，根据设定的临界失效值外推得到对应的失效时间
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3
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失效率拟合
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采用内置的指数分布函数、对数正态分布函数和韦伯分布函数对寿命数据进行拟合，计算MFT和MTTF等参数
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4
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加速寿命模型
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计算温度激活能Ea和电流加速因子n
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5
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加速因子计算
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计算不同应力条件的加速因子AF
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6
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失效率计算
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计算随机FIT失效率和损耗FIT失效率
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7
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失效时间计算
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计算设定时间下的累积失效率或设定失效率对应的失效时间
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8
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抽样计算
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计算LTPD抽样样本量
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9
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光电器件通用可靠性标准
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提供GR468 CORE（Issue 2, September 2004）全文要点翻译和关键标准摘录
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10
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帮助
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提供版本信息，操作指导书和问题反馈建议渠道
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2、可靠性测试能力
曼光提供多种可靠性测试服务，涵盖HTOL（VCSEL、DFB、EML、PD和APD），高低温循环，高温高湿，推拉力，ESD和EOS等试验项目。我们还根据客户产品的具体需求，为您制定可靠性测试方案和测试条件。服务内容包括Burn-in测试条件制定、加速寿命条件以及寿命评估等，确保测试结果能够真实反映产品在实际使用环境中的表现。
3、老化电源设备
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支持80通道的LD电流源（最大200 mA）和80通道PD监测（最大5 V） -
各通道独立供电和控制，每个输出通道具备独立的短路和开路保护 -
EA驱动支持-5~0 V，脉冲加压频率可达100 kHz，占空比为50% -
兼容多种TO管脚定义
此外，曼光还可以提供光电芯片相关仿真软件、设计、测试、封装等一站式增值服务，并支持定制化解决方案，满足客户的多样化需求。
欢迎各位沟通交流，有软件试用或者测试需求请联系张工：13265676811（同微信）
