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在2019年10月16日至23日举行的K 2019大会上，为全球用户提供先进测量与控制技术的制造商SIKORA公司推出了一系列采用创新技术的检测系统，这些检测系统适用于管材、板材和塑料行业的质量控制和工艺优化。在本次展会上，观展人员还可以携带塑料颗粒样品在现场使用实验室测试系统PURITY CONCEPT V进行检查和分析。
链塑网记者Lynn前往10号馆H21展位，对德国SIKORA董事会董事Harry Prunk先生进行了采访。采访过程中，Lynn对SIKORA公司今年展出的产品在环保、节源降本以及所应用的行业领域提出了相关的问题，Harry Prunk先生对产品在管材和塑料应用的检测技术等方面进行了详细的解答。
链塑网记者Lynn（左）
SIKORA董事会董事Harry Prunk先生（中）
SIKORA市场部经理Katja Giersch女士（右）
用于测量管道直径达1,600 mm的CENTERWAVE 6000全球首发
随着CENTERWAVE 6000/1600的全球首发，SIKORA推出了一款适用于新尺寸范围的管道测量系统。在挤出过程中，该系统可在线控制塑料管道的产品品质，对直径250 - 1,600 mm的管道进行精确测量。CENTERWAVE 6000采用了创新型的毫米波测量技术，可在整个管道圆周方向上对管道的壁厚、外径、椭圆度、内轮廓及熔垂进行在线式检测。
（详情请看CENTERWAVE 6000采访视频）
CENTERWAVE 6000 SIKORA管材销售部负责人Christian Schalich先生说：“该系统不仅在检测范围上引人瞩目，而且其应用将为挤出工艺流程带来效益，可以减少起车废料，确保产品具有最佳的品质，实现对生产过程最佳的控制。该系统不需要耦合介质，可以对管材进行精确测量，不受温度、塑料材料类型的影响，且无需校准。此外，该检测系统可以自动确定材料的折射率。” Schalich先生说。材料的折射率确定了毫米波穿透材料的强度及速度，对于测量的准确性起决定性作用。在生产条件改变的情况下无需手动输入参数进行修正。Schalich先生补充说：“用户将受益于该系统在生产线上的应用，该系统还可快速提供测量数据，在接通电源后可立即提供可靠且重复性高的测量数值。”
使用PLANOWAVE 6000在板材挤出过程中对厚度进行测量
SIKORA公司的 PLANOWAVE 6000是一款非接触式测量系统，用于在塑料板材挤出过程中进行无损式的厚度测量。该系统可测量由工程塑料(例如POM)和高性能塑料(例如PEEK)制成的板材。PLANOWAVE 6000还适用于测量透明材料和广告用塑料，例如PMMA和PVC-FOAM以及玻璃。该系统采用了毫米波测量技术，可提供最佳的测量精度，且不受板材材料和温度的影响，无需根据材料情况进行校准。PLANOWAVE 6000可以直接安装在生产线热态或冷态的位置。测量值可在数据显示处理装置ECOCONTROL 6000上进行实时显示。除了对板材在整个宽度方向上显示各点的测量数值之外，用户还可以查阅完整的趋势图和统计学图表。
具有颜色识别功能的光学实验室检测系统PURITY CONCEPT V
首次在K展上亮相的PURITY CONCEPT V是SIKORA公司推出的一款用于塑料材料检测的光学实验室检测系统。该系统配备了一个自动光检台，塑料颗粒样品可以放置在其中，自动通过检测单元，然后在数秒之内，彩色的成像系统即可完成对样品的检测。系统配备了一个投影仪，可直接在样品台上以光标标识杂质颗粒的位置。通过对影像进行分析，可以对透明、不反光和有色颗粒表面上大于50μm的杂质（如黑点）进行自动检测、显示和统计分析。根据分析结果，操作员可以确定杂质的类型并采取后续措施。该测试系统的另一个功能是可对有色差的颗粒进行检测。
PURITY CONCEPT V的现场样品测试
（详情请看PURITY CONCEPT V采访视频）
“让技术变得生动”是本次K展上 SIKORA的主创意。通过模拟的实验室环境，SIKORA公司在现场通过PURITY CONCEPT V进行实地的材料测试。在展会开展前客户已经被邀请参加此次活动，并事先提供样品颗粒用于免费的测试，这些样品将直接在展区进行检测和分析。客户也可以选择在观展的时候携带小量的样品，在展区直接进行检测和分析。“实地的样品颗粒测试是证明系统功能的最佳方式，并为客户了解该系统具备哪些优势提供资讯。”SIKORA商务拓展及塑料行业区域销售经理 Hilger Groß 先生说道。“通过实地的测试，我们的客户可以亲自确认系统的精确、快速和易操作等特性。”Groß 先生解释道。
采用X射线检测技术的实验室检测系统PURITY CONCEPT X用于检测金属杂质
此外，SIKORA的展台上还展出了采用X射线检测技术的实验室检测系统PURITY CONCEPT X，该系统用于检查有色颗粒中的金属杂质，这些杂质在可见光的检测系统中是不可见的。PURITY CONCEPT X采用的自动化操作设计原理， SIKORA公司已于2016年推出使用，如今该设计原理已成为SIKORA公司实验室测试系统的设计基础。由于采用了X 射线技术，该系统可以检测颗粒表面和内部的杂质。“PURITY CONCEPT X特别适用于黑色和彩色材料的样品检测。除此之外，我们还可以看到该检测系统对用于高压电缆绝缘层的半导体材料进行检测应用的可能性。例如，在这些材料颗粒中可能存在由于挤出机的金属部分磨损带入的金属杂质，通过该系统的应用，就可以可靠地检测出金属杂质并进行全面的分析。”Hilger Groß 先生解释说。
使用PURITY SCANNER ADVANCED进行光学在线检测和杂质分离 - 还有“Twin Pack”的配置，用于更高物料检出量的应用场合：
（详情请看PURITY SCANNER ADVANCED采访视频）
SIKORA展台的另一个亮点是PURITY SCANNER ADVANCED，它可用于塑料颗粒的在线光学检测和杂质分离。该系统将X射线成像系统与最多四个的黑白和/或彩色成像系统进行组合。这种组合方式可确保检测出颗粒内部的金属杂质、有颜色偏差的颗粒以及颗粒表面上的黑色斑点。被检测到的杂质颗粒会被自动剔除。PURITY SCANNER ADVANCED采用了功能强大的处理器系统和智能软件，是一款可靠的产品品质保障设备。专业的数据分析管理系统（PDAM）提供对检测到的杂质进行统计分析，按杂质的大小和出现频率进行归类，在检测过程中，对光学成像系统和X射线成像系统检测到的杂质颗粒图像存储备查。Hilger Groß 先生说道：“市场上关于材料洁净度的质量要求日益提升。因此，在线杂质检测和分离就具有更大的意义。PURITY SCANNER ADVANCED是市场上同类产品中最有效的分拣系统。” 对于物料产量很高的场合，分拣系统可提供“Twin Pack”的解决方案，该解决方案首次在K展上进行展示。该系统特别适用于光学分拣和应用，其特点是有着更高的检出量。“Twin Pack”解决方案的检出量可达到每小时3吨。
“Innovation Corner”中的互动交流——用户所需是测量技术的未来：
SIKORA公司认为，将创意转化为创新和产品开发，为管材、片材以及其它塑料行业提供技术保障，以实现最佳的产品品质、达到最佳的工艺流程以及最佳的成本效益，这是公司的使命。通过在K展推出“Innovation Corner”，正是对这一理念的展示。SIKORA公司诚邀来访者与SIKORA的研发部门专家进行单独的会谈，就有关未来用于产品品质控制的测量技术方面提出自己的观点、需求及技术要求。
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