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CoolSiC™ 混合IGBT单管的技术背景

CoolSiC™ 混合IGBT单管的技术背景 英飞凌工业半导体
2022-02-24
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导读:一般来说,由于双极特性,IGBT开关损耗主要源于“拖尾电流”引发的高关断损耗。

一般来说,由于双极特性,IGBT开关损耗主要源于“拖尾电流”引发的高关断损耗。然而,当IGBT的特性足够好的时候,IGBT的开通损耗可能会占主导地位,譬如最新推出的TRENCHSTOP™5 650V IGBT,用硅二极管续流时,它的开通损耗远远大于关断损耗。这就想到用采用英飞凌CoolSiC™设计混合单管来大大降低开通损耗。


关于CoolSiC™混合单管的

技术背景和产品介绍

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