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光刻机的微纳应用

光刻机的微纳应用 巅慧科技
2024-09-14
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导读:#巅慧科技 #DH #光刻机的微纳应用 #光刻机原理 #电容位移传感器 #自动调焦系统

01

 光刻机介绍

光刻机(Mask Aligner)又名掩膜对准曝光机、曝光系统、光刻系统等。常用的光刻机是掩膜对准光刻,所以又叫Mask Alignment System。



光刻机分类

根据操作的简便性,光刻机一般分为三类:手动、半自动、全自动。

手动:通过手调旋钮改变其X轴、Y轴和thita角度来完成对准,对准精度低;

● 半自动:对准通过电动轴根据CCD进行定位调谐;

● 全自动:从基板的上载下载、曝光时长和循环都是通过程序操控实现全自动控制;全自动光刻机可以满足工厂对处理量的需求。



光刻机的结构

图1.光刻机总体结构



光刻机的性能指标

光刻机的主要性能指标有:支持基片的尺寸范围、分辨率、对准精度、曝光方式、光源波长、光强均匀性、生产效率等。

分辨率是对光刻工艺加工可以达到的最细线条精度的一种描述方式。光刻的分辨率受光源衍射的限制,所以与光源、光刻系统、光刻胶和工艺等各方面都有关系。

对准精度指在多层曝光时层间图案的定位精度。

曝光方式分为接触接近式、投影式和直写式。

曝光光源波长分为紫外、深紫外和极紫外区域,光源有泵灯、氙灯、准分子激光器等;其中,激光器光源具有高亮度、高单色性和高稳定性等优点,因此在现代光刻机中得到广泛应用。



光刻机的作用

光刻机是一种用于微电子制造的重要设备,它的主要作用是将芯片设计图案转移到硅片上,制造出微小的电路元件。光刻机属于技术难度最高、单台成本最大、技术集成密度高的半导体制程设备。



光刻的工艺流程

图2.光刻的工艺流程



光刻机工作原理

光刻机通过一系列的光源能量、形状控制手段,将光束透射过画着线路图的掩膜,经物镜补偿各种光学误差,将线路图成比例缩小后映射到硅片上,不同的光刻机成像比例不同,有5:1,也有4:1;然后使用化学方法显影,得到刻在硅片上的电路图(即芯片)。

一般的光刻工艺要经历硅片表面清洗烘干、涂底、旋涂光刻胶、软烘、对准曝光、后烘、显影、硬烘、激光刻蚀等工序。经过一次光刻的芯片可以继续涂胶、曝光。越复杂的芯片,线路图的层数越多,也需要更精密的曝光控制过程。现在先进的芯片有30多层。


图3.光刻机工作原理图


上图是一张光刻机的简易工作原理图。下面,简单介绍一下各设备在光刻机中的作用。


 测量台、曝光台:承载硅片的工作台,也称双工作台;

 光束矫正器:矫正光束入射方向,让激光束尽量平行。

 能量控制器:控制最终照射到硅片上能量,曝光不足或过足都会严重影响成像质量。

 光束形状设置:设置光束为圆形、环形等不同形状,不同的光束状态有不同的光学特性。

 遮光器:在不需要曝光的时候,阻止光束照射到硅片。

 能量探测器:检测光束最终入射能量是否符合曝光要求,并反馈给能量控制器进行调整。

 掩膜版:一块在内部刻有线路设计图的玻璃板。

 掩膜台:承载掩膜板运动的设备,运动控制精度是nm级。

 物镜:物镜由20多块镜片组成,它可以把掩膜版上的电路图按比例缩小,再被激光映射到硅片上,而且物镜还需要补偿各种光学误差,因此物镜的设计难度大,精度要求高。

 硅片:用硅晶制造的圆片。硅片有多种尺寸,尺寸越大、产率越高。由于硅片是圆形,所以需要在硅片上剪一个缺口来确认硅片的坐标系,根据硅片缺口形状不同分为两种:flat和notch。

 内封闭框架、减震器:将工作台与外部环境隔离,保持水平,减少外界振动干扰,并维持恒定的温度、压力。


图4.荷兰EUV光刻机


以世界上最先进的荷兰EUV光刻机为例,重量高达180吨,内部零件超过10万个,需要40个集装箱运输。


02

 光刻机的微纳应用

5nm的EUV光刻机工作,就相当于是用只有头发丝直径万分之一粗的光线,在芯片上“雕刻”电路,最后让指甲盖大小的芯片包含上百亿个晶体管,这种技术是十分复杂的。光刻机制造芯片的工艺都是纳米级别,因此无论是光学设计、还是运动控制,都要用到大量的超精密定位及测量技术。



光束矫正技术

从激光器出来的光束,由于激光器元器件误差和材料的不均匀性,加之光束本身的干涉现象,光斑质量很差且传输方向也不能保证完全平行,此时,就需要用到自适应光学中的波前探测器和波前矫正器(变形镜)来对光束进行实时波前矫正。实现这种矫正技术的精密器件为变形镜,它是微纳运动控制技术中的设计难度最高的一类产品。

图5.变形镜及驱动控制系统


连续表面反射镜的下方粘接的是多个压电陶瓷叠堆促动器,每一个单元都由独立的驱动放大电路进行驱动,使压电陶瓷叠堆进行伸缩运动,其运动状态是独立的;这样,根据波前探测器检测到的光束波前信息,经波前补偿算法计算后得到的补偿量,传输到每一个压电陶瓷促动器,压电陶瓷的伸缩和固定使连续表面反射镜形成相应的起伏,从而完成对入射光束的实时波前波形补偿,起到优化光束质量和矫正光束平行度的作用。

下表为巅慧科技37单元压电变形镜的典型参数说明:


  型号:

DM-100

  单元数:

37单元

  通光口径:

全日径66mm

  有效口径:

55mm

  单个执行器位移:

8μm

  频率:

1000Hz

  反射率:

≥99.5%

  可校正Zernike模式项数:

16阶


多类型的超精密运动控制技术

在光刻机内部存在大量的运动平台,有实现长距离,低精度的高速运输装置,也有短距离,超高精度的超精密位移台,多种运动平台结合,构成了复杂的运动控制系统。



直推式压电纳米位移台

直推式位移台,指由叠堆型压电陶瓷执行器提供驱动力,经过位移放大机构,柔性机构推动负载进行多维扫描;压电陶瓷叠堆执行器虽然有体积紧凑、重量轻集成度高的特点,但是输出位移小,因此采用位移放大机构实现压电陶瓷叠堆执行器输出位移的放大。

图6.直推式位移台结构图


直推式压电纳米位移台,顾名思义,是利用逆压电效应的压电陶瓷叠堆的伸缩,直接推动载物台或负载;即使用位移放大机构放大了输出位移,但机械行程仍然较小,光刻机中的掩膜台往往就采用这种结构的位移台。也可以与大行程、低精度的载物台一起构成二级位移系统,以实现位移时精调的步骤。

图7.直推式压电纳米位移台

  型号:

WYT-50.50

  执行器:

压电

  运动轴数:

2轴    

  控制方式:

开/闭环

  机械行程:

X50μm/Y50μm

  分辨率:

5nm

  重复定位精度:

15%

  频率(空载):

X900Hz/Y900Hz


铠装执行器

图8.铠装执行器结构图


直接将压电陶瓷叠堆按需求设计并封装,这种产品称为铠装执行器;通常作为独立执行器为客户定制,客户用此执行器实现多种微纳精度等级的位移和角度定位系统,在光刻机的传输及检测机构中,可以用到大量的铠装执行器。

图9.铠装执行器

  型号:

铠装执行器

  执行器:

压电

  控制方式:

开/闭环

  机械行程:

70-200μm可定制

  分辨率:

5nm

  频率(空载):

900Hz



压电步进电机

直推式的压电纳米位移台,其机械行程一般较小(50μm-300μm);机械行程与控制精度往往不会跨数量级(当机械行程在微米级时,控制精度在纳米级),但如果需要使用在较大机械行程(1mm-3mm)的同时,保证较高的控制精度(1nm);直推式的驱动方式就无法满足这种应用场景的需求,需要采用特殊的压电步进电机的设计,用多组垂直与水平向差分式压电陶瓷组,交替运动实现步进运动,就可以实现满足较高控制精度的大行程运动。

图10.压电步进电机

图11.压电步进电机结构图



自动调焦系统

光刻机的物镜是一套非常复杂的聚焦系统,而聚焦系统中,自动对焦是全自动光刻机必不可少的技术;但实现方式并不复杂,只要用一套精密位移系统带动物镜中的一块镜片实现微位移,就可以使物镜的焦距发生变化,实现这种Z向微位移的装置,可以采用压电陶瓷叠堆或音圈电机模组作为驱动源。



音圈调焦机构(FM-029.06)及驱动控制器(Diamond Plus)

图12.音圈调焦机构及驱动控制器


此型号采用中孔设计,驱动源为音圈电机模组,集成光栅尺作为传感器,在保证运动行程不变的情况下,根据传感器选择不同,还可实现不同的控制精度,最高可达20nm。

音圈调焦系统参数:


  型号:

FM-029.06

  通光孔径:

29mm

  运动轴数:

单轴

  行程:

士3mm

  速度:

300mm/s

  分辨率:

20nm~100nm(可选)

  重复定位精度:

40nm~1000nm(可选)

  外尺寸:

83*83*76mm

  驱动力:

4N

  单步最小位移:

20nm~100nm(可选)

  柔性机构(导向类型):

弹片

  负载最大质量:

150g



超精密传感技术

在光刻机中大量的超精密运动控制体系中,测量和反馈都是必须采取的手段,不仅在纳米位移系统中需要集成传感器进行负反馈控制,在不同运动控制系统的边界处,也需要使用超精密位移传感器来测量和保护,以防止昂贵的硅晶片与运动器件碰撞造成损坏。

电容传感器是一种将被测非电量的变化转换为电容量变化的传感器。它结构简单,体积小,分辨率高,具有平均效应,测量精度高。而变极距的电容位移传感器,基于平板电容的原理,探头面和接地的被测面间建立电场,电容值反比与探头面和被测面间的距离,电容型传感器是一种不接触式的传感器,因此,没有机械载荷,无磨损等优点,而且由于无接触的特点,特别适合振动和高速生产线的应用。

图13.电容位移传感器结构图


一台光刻机要使用100多套电容位移传感器。

巅慧科技研发的单极性电容式微位移传感器由传感器探头和信号调理电路组成。所述信号调理电路包括集成在调制电路板上的载波调制电路和集成在解调电路板上的解调电路,调制电路板安装在探头壳体内,载波调制电路通过同轴电缆与感应极板连接,解调电路板安装在探头壳体外,解调电路通过多芯电缆与载波调制电路连接。

巅慧科技根据自己发明开发的单极性电容式微位移传感器有下述优点:

● 载波调制电路输出的调制电压与被测对象的微位移呈线性关系,实现高精度测量;

● 在实际使用中可以根据需要改变连接解调仪与传感器探头的多芯电缆的长度,增加了传感器使用的灵活性、降低了成本。

图14.电容位移传感器及控制盒



电容位移传感器 CAP-PC 参数


● 圆柱形电容位移传感器CAP-PC系列

  型号:

CAP-PC.60

  装配方式:

(A)外螺纹安装式;(B)集成线缆式;(C)法兰式

  探头尺寸(H*D):

20mm*φ6mm

  标准量程范围:

0.06mm

  压缩量程范围:

0.03mm

  动态分辨率:

1.2nm(RMS)

  静态分辨率:

0.06nm(RMS)

  线性度:

模拟监控输出:<0.5% FSO / 标准数字校正后输出<0.025% FSO

  工作温度范围:

-40℃ 到 +85℃

  湿度:

≤95%(无冷凝现象发生)

  探头输出接口:

J30J-9

  适配控制器:

CAP-D.04

● 扁平舌形电容位移传感器

  型号:

CAP-PRS.400

  装配方式:

4*M2螺孔

  探头尺寸(L*L):

R:6.5mm/L2:2.75mm/L3:11.5mm/H:5mm

  标准量程范围:

0.4mm

  压缩量程范围:

0.2mm

  动态分辨率:

8nm(RMS)

  静态分辨率:

0.4nm(RMS)

  线性度:

模拟监控输出:<0.5% FSO / 标准数字校正后输出<0.025% FSO

  工作温度范围:

-40℃ 到 +85℃

  湿度:

≤95%(无冷凝现象发生)

  探头输出接口:

J30J-9

  适配控制器:

CAP-D.04

● 扁平方形电容位移传感器CAP-PR系列

  型号:

CAP-PR.400

  装配方式:

4*M2螺孔

  探头尺寸(H*D):

15mm*15mm*5mm

  标准量程范围:

0.06mm

  压缩量程范围:

0.03mm

  动态分辨率:

1.2nm(RMS)

  静态分辨率:

0.06nm(RMS)

  线性度:

模拟监控输出:<0.5% FSO / 标准数字校正后输出<0.025% FSO

  工作温度范围:

-40℃ 到 +85℃

  湿度:

≤95%(无冷凝现象发生)

  探头输出接口:

J30J-9

  适配控制器:

CAP-D.04


 

 

 

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重庆巅慧科技有限公司创立于2014年,秉承“更快、更准、更小”的技术目标和“创 新、合作、共赢”的企业理念,致力于基于智能材料的执行器和传感器的最新研究成 果的技术产业化研发。提供超精密定位技术、一体化完整解决方案及产品。
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