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TOPCON TECHNOHOUSE CORPORATION Manager西川和人将出席第五届中国(国际)Micro LED显示高峰论坛,关于更多精彩的演讲内容,欢迎各位莅临现场聆听学习。

地点:重庆金科大酒店
演讲嘉宾

演讲题目及摘要
《Overcoming Optical Issue for High PPI AR Display and Uniformity for MINI LED BL》
演讲摘要:Micro LED显示器正成为新型显示器的主流,特别是对于要求超过2000ppi和2000cd/m2的AR显示器。然而,Micro LED存在着漏光、低EQE和波长漂移等关键问题。
本次将介绍如何通过光学和波长测量进行分析。关于Mini LED BL,调光LCD和QD板试图征服OLED电视市场。然而,Mini LED芯片的质量稳定性仍然很低,而且LED芯片越来越小,强度越来越高。本次会议将介绍如何通过波长测量均匀性,包括demura方法。
Micro LED display is now becoming mainstream of novel display especially for AR requiring over 2000 ppi and 2000cd/m2.
However small Micro LED occurs critical problem such as light leakage, low EQE and wavelength shift.
The session will present how it analyze by optical and wavelength measurement.
Regarding Mini LED BL, LCD with local dimming and QD sheet try to overcome the market of OLED TV.
However Mini LED chip quality stability is still low and LED chip is getting smaller and higher intensity.
The session will present how it measure uniformity by wavelength including demura approach.
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