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不依赖微波暗室的天线计量测试技术

不依赖微波暗室的天线计量测试技术 微波射频网
2020-09-17
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导读:不依赖微波暗室的天线计量测试技术


目录


01


背景介绍

02


测试方法

03


 测试结果

04


总结与讨论


 1、 研究背景




随着通信技术的发展,天线向3D波束赋形和智能化演变,就天线测试设施而言,传统的远场测试系统测试速度慢,投资高。

后来出现了球面近场测量系统,测试速度得以提高,设备投资得以降低,使得快速测量3D方向图成为可能。

针对未来5G天线的测试,每个天线需要测试多种波束赋形的模式(也许超过100种),则测试工作量是巨大的。所以如何进一步提高测试速度、降低测试成本,是需要研究的。


2、测试方法




甚近场测量场地:近年来的新技术,不依赖电波暗室,这主要是因为在感应近场区,由于磁场的闭环特性,测量探头对磁场的扰动影响要轻微一些。在测得甚近场区域的磁场幅度、相位参量以后,需要进行数据处理才能换算得到远场辐射特性。



3、测试结果






来源:泰尔实验室
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