一、如何量化相参性能
将相同频率的两个源输入混频器，把混频器作为鉴相器用，然后在中频输出端查看产生的直流偏移，这样来量化相位相参指标。通过给定频率下混频器的Kd（V / Rad），可以确定两个源的相位偏移。
寻找混频器的Kd
注意：一定要使用适当的功率来驱动混频器，并且两个通道要用相同的频率。
a）使用以上设置和Holzworth GUI，将通道1的相位设置为0度，并更改通道2的相位，直到找到DMM混频器输出的最大值
b）记录万用表（DMM）显示的电压
c）重复步骤a），但现在找到混频器将输出的最小值，相位应与最大值相差180度
d）再次记录万用表显示的电压
e）通过找到混频器的最小和最大输出，就能找到180度（π弧度）相位变化范围内，混频器可以输出的电压范围，现在取最小和最大直流输出之差，然后将其除以π， 结果是V / Rad或Kd
既然已经知道混频器的直流输出电压与相位偏移量之间的相关性，我们就可以计算出两个源之间的相位偏移量。
注意：电缆必须尽可能短，建议使用相匹配的电缆。
1）将两个源设置为相同的相位偏移
2）记录混频器的直流输出
3）计算两个源的偏移量
二、HS9000系列通道间相位稳定性
HS9000系列是一个多通道平台，集成了Holzworth的HSM系列RF合成器模块，是每个通道独立可调的CW信号源。这些合成器采用非锁相环架构，可实现出色的通道-通道稳定性。但是，由于某些集成电子组件固有的热漂移，存在与预热时间以及状态稳定度相关的通道间相位漂移。
Holzworth做了一系列测试，证明HS9000系列多通道RF合成器产品中的通道稳定性。相位稳定性测试使用尽量短的稳相RF电缆，连接到鉴相器（混频器），以监测和比较两个通道之间的相位变化量。本文档中的图标和数据，来自于随机抽取的模块和通道，代表了典型平均测试数据。
下面（和第2页）中包含的数据表明，在运行30分钟内，通道-通道稳定性优于±0.25ps。而在50分钟时，测试数据表明通道间的漂移进一步降低至大约±0.10ps。
如下所示，在运行30分钟后，通道-通道稳定性<±0.25ps。在运行50分钟（稳定状态）后，数据表明漂移进一步降低至大约±0.10ps。在此测试期间，环境室温大约波动0.7C。
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