基于PXI的全新无线测试系统实现速度优化，可大幅提高生产力
NI（美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI）作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，近日宣布推出了全新无线测试系统（WTS），这一系统解决方案将可大幅降低大批量无线制造测试的成本。尽管无线测试的复杂性日益增加，但借助WTS这个专为高测量速度和并行测试而设计的系统，企业仍可成功地降低测试成本，数倍提高生产车间的生产力。
“物联网（IoT）等大趋势将会促使更多设备集成射频（RF）和传感器功能，过去这些功能的测试成本非常昂贵。但是测试成本不应该限制产品的创新或经济可行性，”Frost & Sullivan测量和仪器项目经理Olga Shapiro表示，“为了维持未来的盈利能力，企业需要重新思考无线测试方法，积极适应新的模式。由于WTS基于经业界认可的PXI平台，并获得NI多年针对无线通信测试市场所累积的技术优势，我们预计该系统将会对物联网的盈利能力产生积极且重大的影响。”
WTS结合了PXI硬件的最新技术进展，为多标准、多设备、多端口测试提供了一个统一的平台。结合TestStand无线测试模块等灵活的测试序列软件，制造商可大幅提高并行测试多个设备时的仪器利用率。WTS具有可立即运行的测试序列，可轻松集成至生产线，适用于采用Qualcomm和Broadcom等供应商的芯片组的设备以及集成式待测设备和远程自动化控制。基于这些特性，用户可以看到RF测试设备效率的大幅提高及测试成本的进一步降低。
“WTS帮助我们缩减了超过25%的测试成本，”德国佩科声学有限公司测试设备和夹具制造主管Enrique Gutierrez表示，“我们能够在同一个装置上运用多种无线技术来并行测试四个设备，其中每个设备均具有三个天线端口。”
WTS是NI基于PXI硬件、LabVIEW和TestStand软件开发的最新系统。WTS可支持LTE Advanced、802.11ac、低功耗蓝牙等各种无线标准，专为以下应用的制造测试而设计：WLAN接入点、移动手机、信息娱乐系统和其他包含蜂窝、无线连接和导航标准的多标准设备。WTS采用的软件设计的PXI矢量信号收发仪技术为制造测试环境提供了一流的RF性能以及一个可随RF测试需求变化而扩展的平台。
如需了解全新无线测试系统的更多信息，请访问ni.com/wts。
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