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微波芯片在片(On-Wafer)测试解决方案及应用案例│Ceyear思仪云课堂第7期

微波芯片在片(On-Wafer)测试解决方案及应用案例│Ceyear思仪云课堂第7期 微波射频网
2021-06-21
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导读:本期主题:《微波芯片在片(On-Wafer)测试解决方案及应用案例》。

 Ceyear思仪云课堂第7期


本期云课堂主题

《微波芯片在片(On-Wafer)测试解决方案及应用案例》


您将收获以下内容 
一、微波芯片在片测试解决方案介绍
二、微波芯片测试应用场景和市场分析
三、典型系统功能及配置,典型应用案例
四、微波芯片测试主机介绍

与业界同仁共同探讨:微波芯片在片测试市场规模有多大?为什么之前没有细分市场数据?按照之前的采购模式,为什么不能顺利搭建在片测试系统?高校引入的国外人才,在大陆建设在片测试系统,和其它国家和地区搭建在片测试系统有什么区别?

更多话题,期待与您在直播现场进行深度探讨。


本期主讲嘉宾

杨保国

中电科思仪科技股份有限公司高级工程师

长期从事微波毫米波矢量网络分析仪器的应用探索和研究。

本期直播日程
直播日期:2021年6月21日(周一)
时间
主题
15:00-15:40 微波半芯片在片(On-Wafer)测试解决方案及应用案例
15:40-16:00 线上技术交流
16:00-16:05 公布最佳提问嘉宾、最佳邀请人、有奖问卷调查获奖榜单

扫描下方二维码直达会场


电脑端观看网址:https://live.vhall.com/227547345


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【声明】内容源于网络
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