11月4日，天府绛溪实验室
先进芯片测试与标准前沿研究中心
正式成立
该中心是天府绛溪实验室
统筹布局关键共性支撑技术研究
助力跨领域协同创新中的重要一环
中心将聚焦先进芯片测试技术与标准研究
致力于推动我国
高端集成电路测试技术与标准
实现跨越式发展
为我国集成电路产业提供关键支撑
先进芯片测试与标准前沿研究中心
中心依托电子科技大学自动化工程学院测试技术与仪器研究团队，由英国皇家工程院院士李晔领衔，电子科技大学王厚军教授担任中心主任，汇聚多名国家级人才，共同组建了一支学术与工程并重、科研与产业联动的一流队伍，旨在突破高端芯片测试的关键技术。
△ 王厚军主任带领科研团队研制和调试高端测试仪器
关键技术
中心已在动态可重构测试架构、自适应非均匀综合校准、多信息域同步分析、超宽带信号合成等领域取得突破，成功研制出高速大规模SOC测试机、存储器测试机、射频集成电路测试机等样机系统。
未来，中心将重点围绕先进芯片测试方法、高端测试设备研制、计量检定方法与标准制定等方面展开系统研究，构建“测试方法与标准—测试设备—计量检定溯源”完整技术体系，强化从基础研究到产业落地的全链条能力。
产业化路径
当前，集成电路是全球科技竞争的战略要地，也是支撑新质生产力发展的关键基础。作为确保芯片功能、性能及产品良率的核心环节，成品测试直接关系到芯片质量与产业水平；相关的测试标准与溯源体系，更是集成电路产业发展的基石与技术制高点。然而，我国高端集成电路测试设备市场长期由国外企业主导，亟需在技术研究、设备研制、标准制定上形成突破。
先进芯片测试与标准前沿研究中心将聚焦SOC、存储器、射频及模数混合芯片等先进芯片测试技术，推动高端测试设备从研发到产业化落地。不同于传统从中低端向高端发展的模式，中心将依托已有技术积累，采取“从高端向中低端覆盖”的发展策略，率先攻克行业制高点，再逐步拓展市场，并推动相关测试标准与规范的制定。
先进芯片测试与标准前沿研究中心的成立，是天府绛溪实验室完善“基础研究—技术攻关—产业落地”创新生态的关键一环。下一步，实验室将以中心为依托，联合申报国家质量标准实验室，积极服务国家质量基础设施建设，为四川省及西部地区集成电路产业升级注入核心动力，助力我国在全球芯片测试与标准竞争中抢占战略高地。
