揭榜挂帅
一、需求名称
复杂光源的超表面光谱成像测量技术研发
二、需求内容
1.需求解决的技术问题
在显示测量、工业检测、医学成像及其它复杂光源测量领域，需要对被测光源进行逐像素的光谱分析，目前行业主流的技术方向是通过滤片转轮式的成像式亮色度计完成光谱信息的获取，该技术路线有以下问题：
（1）需要转动滤片分次拍摄，时间成本高。
（2）光谱信息的精度不高，且受限于滤片的工艺成熟度。
同时，其它技术路线也同样存在瓶颈，线扫光谱仪等分光式光谱成像计成本过高且效率过低，难以适配工业批量生产要求，而拜尔滤片式相机则光谱精度过低，无法满足高精度测量分析的指标需求。
目前的技术路线都无法兼顾效率，精度，和可控的设备成本。
2.技术需求提出背景及技术应用领域
（1）技术需求提出背景
近年来随着信息化社会的发展，机器视觉，AI等相关技术的成熟；消费电子，显示行业，医学成像，工业检测等相关领域对复杂光源的高精度测量需求不断加大，这些场景往往需要通过“看的清”达到“算的准”，因此高精度的光谱级测量技术，是实现后续复杂任务最基础的眼睛。
例如在显示行业，显示屏的生产过程中，对屏体进行逐像素的光谱级的测量，可以精准获取每颗像素的光谱信息，为后续显示屏的效果调试，色温校准，色彩管理，均匀性校正提供准确的数据支撑，在满足工业化高效率低成本的前提下，最终达到更好的显示效果。
（2）技术应用领域
针对复杂光源的超表面光谱成像测量技术，能够实现对被测光源的图像级光谱信息的测量及分析，可广泛应用于显示屏测量，食品检测，地质勘探，病理分析，工业检测等场景。
3.技术难点
（1）超表面制造工艺的难度：加工中的制造公差、材料介电常数的不确定性、表面粗糙度、对准误差及局部缺陷等，会严重影响器件性能。大规模、高精度、低成本的制造仍是难题。
（2）病态逆问题与同色异谱：同一个传感器响应可能对应多个不同的光谱，导致测量与重建结果不稳定。
（3）大分辨率、高精度、低成本的冲突：为了避免因欠采样带来的摩尔纹等问题，需要大分辨率的成像靶面，这对超表面和光学结构的设计和制造带来挑战。
三、现有基础
1.开展的工作
已完成前期对超表面技术的基础调研，以及对该技术的需求规格澄清。
2.所处阶段
目前处于光学光学方案设计阶段。
3.投入资金和人才
已投入资金：103万元；已投入人员：11人。
4.仪器设备
积分球2台；单色仪2台；分光式光谱仪2台。
5.生产条件
具备光学设备和微电子器件的加工生产能力。
四、合作方式
联合开发
如有合作意向，请联系我们
电话：0411-81760919
关于我们
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