IEC 62321-3-1:2026 新版标准正式发布，XRF筛查新增四项指标元素，电子电气产品合规检测迎来升级- 大数跨境

IEC 62321-3-1:2026 新版标准正式发布，XRF筛查新增四项指标元素，电子电气产品合规检测迎来升级

BCTC倍测检测

2026-07-15

2026 年 5 月 6 日，国际电工委员会（IEC）正式发布IEC 62321-3-1:2026新版标准。作为电子电气行业RoHS 符合性验证的核心筛查标准，此次更新属于技术性修订，全面取代并废止2013 年发布的第一版 IEC 62321-3-1:2013 及 IEC 62321:2008 中的相关内容。

标准概述

IEC 62321-3-1:2026 采用X 射线荧光光谱分析法（XRF），对电子电气产品均质材料中的特定物质进行快速筛选检测。该方法具备快速、非破坏性及多材料适用等特点，常用于电子元器件、塑料件、金属件、陶瓷材料、电线、PCB、外壳及涂层等材料的初步风险评估。新版标准篇幅增至 92 页，稳定性有效期至2030 年。

核心技术变化：筛查元素从 5 种扩展至 9 种

相较于 2013 版仅覆盖铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、总铬（Cr）和总溴（Br）五种元素，新版标准在原有基础上，新增了总磷（P）、总氯（Cl）、总锡（Sn）和总锑（Sb）四项指标元素。这是本次修订最显著的技术变化。

新增元素的风险指向意义明确：

● 总磷（P）：可能与三（2-氯乙基）磷酸酯（TCEP）等磷系阻燃剂相关；
● 总氯（Cl）：可能与短链氯化石蜡（SCCP）、TCEP、氯化三丁锡（TBTC）等含氯化合物相关；
● 总锡（Sn）：可作为特定有机锡化合物的风险指标；
● 总锑（Sb）：可能与锑铅黄（CAS 8012-00-8）等锑系阻燃材料相关。

新增元素本身不一定直接代表产品含有禁用物质，但可作为判断潜在受管制化合物风险的重要线索。新增元素的选择依据为 IEC TR 62936:2016。