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新员报道 | 先进半导体测试技术系统集成引领者——易捷测试技术

新员报道 | 先进半导体测试技术系统集成引领者——易捷测试技术 微纳制造产业促进会
2026-04-22
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国内领先的半导体测试系统集成解决方案提供商 —— 深圳市易捷测试技术有限公司正式加入深圳市微纳制造产业促进会,欢迎公司与各会员单位及产业链上下游企业深化交流、携手合作,共促微纳制造产业高质量发展。



公司简介


深圳市易捷测试技术有限公司是一家专注于半导体测试解决方案的高新技术企业,作为MPI探针台中国区核心代理商,公司在高端测试领域深耕多年,积累了丰富的行业经验与技术实力。公司始终致力于为客户提供从研发到量产的全周期测试服务,业务覆盖半导体晶圆测试、射频毫米波器件表征、硅光子集成芯片测试、量子计算芯片测试、脑机接口芯片测试、新能源器件检测等多个前沿领域,形成了完整的产品矩阵与服务体系。

在探针台系统方面,公司的全自动、半自动、手动探针台、双面硅光探针台、单DIE探针台系列,采用先进的专利技术,全面解决了射频毫米波、硅光子、大功率器件、光学传感器、CPO光电共封装、AI芯片、GPU等通信、视觉成像、功率器件、高算力芯片的测试需求。

凭借专业的技术团队与完善的服务布局,易捷测试已成功服务众多顶尖高校、科研院所及行业龙头企业,建立了良好的市场口碑与合作关系。未来,深圳市易捷测试技术有限公司将继续秉承技术创新、客户至上的理念,紧跟半导体产业发展趋势,不断拓展高端测试技术的应用边界,为中国半导体产业的自主可控与高质量发展贡献力量。

核心业务板块


易捷测试专注于半导体晶圆级测试系统、失效分析设备、封装级测试设备领域,提供全方位的解决方案:

探针台系统:涵盖手动、半自动、全自动探针台,支持高低温测试、磁场测试、真空环境测试等多种应用场景,可满足晶圆级、DIE级、PCB射频等不同测试需求。产品广泛应用于WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、光电、光学传感、高压大电流测试等领域。

半导体测试系统:自主研发半导体测试软件,提供射频微波毫米波测量系统、硅光晶圆测试系统、光学传感器测试系统、异构芯片测试系统等解决方案。近年来,公司在人工智能芯片测试、量子计算测试、脑机接口芯片测试等前沿领域已有成功交付项目,并持续深入。

可靠性测试解决方案:提供ESD/CDM/TLP静电测试系统、覆盖HBM/MM/Latch-up/CDM/TLP/VF-TLP等多种测试模型,为车规级电子器件、家电芯片等产品的抗静电可靠性检测提供专业保障。半导体可靠性测试系统覆盖WLR测试(HCI/NBTI/PBTI/TDDB/EM),载片老化测试等。



产品速递


产品速递1:全覆盖测试解决方案|射频微波器件测量从校准到深度研发生产
世界领先射频/微波器件测试领域头部厂商设备,覆盖从基础测试到前沿科研的全场景需求,提供支持从单点校准、多端口矢量网络分析到晶圆级在片测试的全链路解决方案,兼容主流探针台与ATE平台,显著提升射频器件研发迭代效率与量产测试良率。该方案已成功应用于5G基站射频前端芯片、毫米波雷达模组及高速光模块的量产验证,并正加速适配6G通信芯片与太赫兹器件的测试需求。深圳市易捷测试技术有限公司主要射频毫米波测量解决方案涵盖有源/无源负载牵引、Pulsed I-V/脉冲IV测试、噪声参数测量、非线性矢量网络分析、大信号S参数提取、微波半导体器件及其封装建模服务等关键能力。
  • 太赫兹频段应用的晶圆级测试系统

TS200-THz+110GHz Tuner的200mm太赫兹晶圆测试系统,以及TS600/TS800-PCB专业大型PCB毫米波信号完整性测试设计专用探针台。

  • 终极实验室自动化解决方案

通过组合两个WaferWallet/Max系统,实现晶圆在测试单元间的自动转移,最大化测试吞吐量,并支持多工艺节点晶圆的无缝兼容与跨平台协同。

产品速递2:算力时代,领跑AI芯片测试赛道|GBITEST硅光芯片测试系统解决方案
易捷测试以MPI硅光探针台为核心,重新定义光芯片测试效率边界。我们突破传统电学探针局限,实现光-电协同精准耦合,将硅光器件测试从实验室推向量产线。
亚微米级对准精度:XYZ三轴纳米定位技术,使光耦合损耗降低至0.5dB以下;全参数一站式测试:支持IL/RL、PDL、光谱响应等关键光学参数高速采集;量产级吞吐量:多通道并行测试模式,效率提升300%以上。易捷测试(GBITEST)的硅光及光学器件测量解决方案,以高精度、全自动、宽温域为核心优势,可实现晶圆级O-O/O-E/E-O/E-E全类型光电协同测量,覆盖-50℃~200℃超宽温控范围,耦合精度与重复性均处于行业领先水平。该方案直击硅光芯片研发与量产的核心痛点,解决光纤-芯片耦合对准难、测试周期长、数据一致性差等瓶颈问题,精准攻克插入损耗、偏振相关损耗等核心参数测量难题及双面探测、高速对准、光电共封装(CPO)测试等技术痛点,广泛应用于数据中心光模块、激光雷达(LiDAR)、光计算芯片、生物传感芯片、5G/6G通信、AI算力等前沿领域,覆盖晶圆级CP测试到器件级测试全生命周期,已助力国内多家头部光芯片企业和研究所实验室到量产交付的无缝衔接,大幅提升测试效率、降低研发与量产成本。主力产品涵盖:TS3000-DS半自动单/双面硅光探针台、TS3500-DS全自动双面探针台、TS3000-SiPH全自动硅光探针台、TS2000-IFE和TS3000-IFE半自动多功能探针台。
  • TS2000-IFE+250GHz探针组合是面向下一代高速通信、AI通信及光子集成技术的高端测试解决方案。DC-250G全频段测试能力,满足6G、1.6Tb/3.2Tb高速通信需求。

  • TS3000-DS/TS3500-DS 单/双面测试探针台为应对光通信带宽瓶颈带来的测试挑战。

TS3000-DS:半自动双面硅光探针台(研发 / 小批量)

定位:半自动12 英寸(300mm)探针台,主打硅光芯片(PIC)研发与小批量验证。

核心能力

  • 双面测试(DS=Double Side):支持上下双面光学耦合与电学探针,专测插入损耗、偏振损耗(PDL)。

  • 兼容:12 英寸晶圆、光电子 / RF 器件、CIS/SPAD 晶圆。

  • 温控:可选-60℃~300℃高低温卡盘。

  • 适用:实验室研发、器件表征、工艺验证。

TS3500-DS:全自动多模态探针台(量产 / 全形态)

定位:全自动12 英寸探针台,多模态、全形态、量产级,覆盖晶圆 / 条形 / 裸芯 / 封装。

核心能力

  • 全自动:WaferWallet 自动传片、无人值守、Mapping 量产测试。

  • 双面探测:硅光 / CPO / 光模块高低温、电光联合测试。

  • 高精度:0.5μm定位、支持 RF/mmW、SPAD/CIS/ 硅光全参数。

  • 适用:大规模量产、WAT/CP、AI/GPU/ 硅光产线


产品速递3:聚焦高精度视觉成像与智能识别芯片领域|易捷测试光学传感器测量解决方案
易捷测试提供针对 CIS(CMOS 图像传感器) 与 SPAD(单光子雪崩二极管) 的晶圆级一站式光电测试解决方案。核心方案基于光焱 SG-O 晶圆测试系统与 SPD2200 单光子测试系统,结合易捷测试的探针台集成、高低温控制、自动化软件能力,面向研发验证(DV)与产线晶圆测试(CP/WAT)。
  • CIS/SPAD 晶圆级测试系统
覆盖 400–1700nm、-60–180°C、EMVA1288 标准,提供从QE/PDE/ 暗电流 / 噪声 / 光谱 / 时域全参数自动化晶圆测试,面向图像传感器与激光雷达芯片研发与量产。
1. SG-O/SPAD2200一体机定位与适用
  • 测试对象:CIS、SPAD、ToF、LiDAR、ALS、红外 / 可见光传感器 晶圆(Wafer Level)
  • 适用阶段:芯片研发表征、工艺监控、晶圆良率测试、可靠性筛选
  • 标准:符合 EMVA 1288 图像传感器测试标准
2. 核心硬件配置
  • 高均匀积分球光源
  • 光谱:400nm ~ 1700nm(可见光~近红外 SWIR)
  • 均匀性:>98% @ 50mm×50mm
  • 稳定性:<0.2% 漂移 / 10 小时光强动态范围:140dB
  • 晶圆探针台
  • 兼容:10mm ~ 200mm(8 英寸) 晶圆
  • 半自动 / 全自动探针卡适配
  • 超低噪声温控卡盘
  • 温度:-60°C ~ 180°C
  • 低噪声设计,适合暗电流、噪声、QE精密测量
3. CIS 晶圆测试能力(关键参数)
  • 量子效率 QE / 光谱响应 SR
  • 暗电流 Dark Current、DCNU 非均匀性
  • 灵敏度、动态范围、线性误差
  • 系统增益、饱和容量、PRNU
  • 满阱电荷、读出噪声、SNR
4. SPAD 晶圆测试能力(关键参数)
  • 光子探测效率 PDE(光谱)
  • 暗计数率 DCR、后脉冲概率
  • 死时间、时间抖动 Jitter
  • 击穿电压 Vbr、温度特性
SPAD 专用:SPD2200 单光子测试系统:
  • 集成两大模块
1.SDTM 光谱域测试:PDE、波长响应、QE
2.TDTM 时域测试:TCSPC 时间抖动、死时间、后脉冲
  • 精密温控:稳定结温,支持温度归一化分析
  • 光源溯源校准:满足工业与科研计量级精度

服务客户


深圳市易捷测试技术有限公司已服务超过300家客户,落地项目千余个,客户群体涵盖:
  • 知名企业:华为、阿里巴巴、中芯国际、三安光电、浙江铖昌、傲科光电等
  • 科研院所:东南大学、电子科技大学、北京大学、南京大学、中科院各研究所等
  • 产业客户:常州承芯、华芯微、无锡集成等半导体制造企业
近年,深圳市易捷测试技术有限公司成绩亮眼,在很多高端领域取得了突出进展,成功案例包括:成功交付海南某研究院先进封装后道测试系统集成;又拿下国内某实力研究所量子光子芯片测试系统订单,全面进入量子光子计算测试领域;为香港某高校交付了SPAD单光子雪崩二极管测量系统;并突破领域界限交付首套脑机接口芯片测试系统。

展望未来


随着半导体产业的快速发展,测试环节的重要性日益凸显。易捷测试将继续深耕半导体测试领域,紧跟人工智能芯片、量子计算、硅光子、脑机接口等前沿技术发展趋势,为国内半导体企业提供更专业、更高效的测试解决方案,助力中国智能产业的高质量发展。

联系方式


电话:0755-83698930
手机:18127076420
邮箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:福田区福虹路9号世贸广场C座1203室
官网:www.gbit.net.cn





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微纳制造产业促进会
深圳市微纳制造产业促进会是由深圳地区从事微纳制造产业相关研发、设计、制造、销售、应用的科研院所、先进制造企业、产业园区、咨询及投资机构等相关组织,自愿发起组建并在社会组织管理局正式登记注册,具有独立法人资格的非盈利机构。
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微纳制造产业促进会 深圳市微纳制造产业促进会是由深圳地区从事微纳制造产业相关研发、设计、制造、销售、应用的科研院所、先进制造企业、产业园区、咨询及投资机构等相关组织,自愿发起组建并在社会组织管理局正式登记注册,具有独立法人资格的非盈利机构。
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