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扫描电镜原理及运用(3)电子束与物质的相互作用

扫描电镜原理及运用(3)电子束与物质的相互作用 麦特微科技
2026-05-08
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导读:电子束与物质相互作用

 

 

  

 

二、扫描电镜基本原理-电子束与物质的相互作用

 

2.2电子束与物质相互作用

入射电子与样品相互作用会发生一系列复杂的物理效应,散射过程(scattering events) 是该相互作用最主要的方式。散射过程将电子束能量传递至样品中,激发样品产生一系列信号。
散射过程分为弹性散射(Elastic Scattering)非弹性散射(Inelastic Scattering)
描述散射过程两个关键参数:
散射截面(scattering cross section)
描述特定散射过程的概率,包含了各种复杂相互作用(库仑力、量子效应等)的等效概率面积
平均自由路径(mean free path)
分为弹性散射电子平均自由路径和非弹性散射平均自由路径。

散射截面与平均自由路径示意图

直观感受下,散射过程发生在空气中,比如手电筒光束穿过有灰尘的空气,光线发生了散射。但在SEM中,核心散射过程发生在电子束与物质相互租用区域内,入射电子与固体物质电子云相互作用,发生一些列复杂散射。

弹性散射(Elastic Scattering)
入射电子只改变方向,其能量没有太大的损失,称为弹性散射。弹性散射轨道以一定的角度偏离入射角度(散射角),该散射过程也被称为卢瑟福散射。
弹性散射电子平均自由路径,描述电子在两次弹性散射事件之间所运动的平均距离,它决定了电子束在材料中的作用体积(Interaction Volume)

电子束能量越高,平均自由路径距离相对越长;原子序数越高,原子核的正电荷越强,对电子的库仑引力越大,电子越容易被散射,因此平均自由路径越短。

非弹性散射(Inelastic Scattering)
入射电子与样品发生复杂相互作用,方向与能量都有明显改变。
非弹性散射电子平均自由路径是对于从样品内部产生的、能量特定的信号电子(如俄歇电子、二次电子),其能够逃逸出样品而不损失特征能量的最大距离。这直接定义了该信号的逃逸深度 或信息深度
非弹性散射过程中的能量损失Bethe模型

原子系数, 密度, 电子束能量, 平均电离势
能量损失率随着入射电子束能量的降低而增加;随着原子系数的增加而增加
电子束的最大穿透深度Bethe range
电子束穿透深度随着原子序数的增加而减少;随着入射电子能量增加而增加。
影响电子束与样品交互体积(Interaction Volume)的主要因素
(1)加速电压
(2)原子系数(样品平均原子系数/材质)
(3)样品倾斜角度
Kanaya-Okayama 关于电子与样品相互作用过程中电子射程公式(半经验公式)
电子的最大射程
微米 ( )
入射电子的能量
千电子伏特 ( )
靶材料的平均原子量
克每摩尔 ( )
靶材料的密度
克每立方厘米 ( )
靶材料的平均原子序数
无量纲

非弹性散射过程中的主要机制
(1)价电子的激发
等离子体激元过程,导致金属或半导体自由电子气集体震荡,是金属低能电子损失谱的主要特征源。
(2)内层电子的电离
激发原子内层(比如K/L)电子,原子从基态跃迁到激发态,随后弛豫返回基态,释放特征X射线和俄歇电子。
(3)声子激发
入射电子与晶格振动相互作用,是导致样品加热的主要原因。
(4)韧致辐射/连续辐射
入射电子受原子核库仑力作用会减速制动,动能将转化为电磁辐射释放出去。

电子束与物质交互过程中产生的常见信号
背散射电子(Backscattered Electrons)
返回样品表面的入射电子(入射电子也称为初始电子、一次电子)称为背散射电子,背散射电子大多为弹性散射电子,也有部分是从样品内部逃逸的入射电子,其能量约为入射电子能量的0.7-0.9倍。

二次电子(Secondary electrons)
入射电子与样品原子价电子发生非弹性碰撞,损失的部分能量激发出弱结合的价电子或导带电子,脱离原子束缚的价电子或导带电子称为二次电子。

X射线(X-Rays)
入射电子与原子相互作用时,散射过程中的能量损失将以X射线光量子和热量的形式释放。释放的X射线可以分为连续X射线(continuous X-ray ) 与特征X射线(Characteristic X-Rays)

入射电子受原子核库仑力作用会减速制动,动能将转化为电磁辐射释放出去。这种动能损失的能量是连续能量(非量子化),相应的所产生的X射线也是连续的,这种X射线称为连续X射线,该过程即所谓的韧致辐射或制动辐射(bremsstrahlung or braking radiation),韧致辐射是能谱背底连续谱的主要来源。

当入射电子与原子核内层电子相互作用,入射电子会损失大约几百电子伏特的能量,这些能量将会激发内层电子(损失的能量大于内层电子的结合能binding energy ),使原子发生电离(产生电子空穴core hole),失掉一个内层或较内层电子变为离子,该过程称为芯电子激发
此时整个原子处于不稳定的激发态,将会自发地发生弛豫/退激发而变为稳定状态,这一过程分为辐射弛豫非辐射弛豫。

芯电子激发过程中,原子为了回到稳态,外层电子跃迁填补较内层空穴,如果电子跃迁复位过程中所放出的能量呈光量子形式,则会释放出具有特征能量的X射线,这种X射线称为特征X射线,该效应也称为荧光效应

俄歇电子(非辐射弛豫)
芯电子激发过程中,释放的特征X射线有可能直接以X射线光电子形式释放,也可能被原子再次吸收,释放出一个外层电子,该电子具有原子特征能量,称为俄歇电子。俄歇效应与荧光效为互为竞争关系。
此外电子束与物质相互作用还会产生透射电子,阴极发光,吸收电子,特征能量损失电子等复杂效应。

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