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用于SEM/EDS分析的滤膜样品台

用于SEM/EDS分析的滤膜样品台 覃思科技
2025-08-27
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导读:荷兰Micro to Nano供应的滤膜样品台为双组件结构设计:包含一个用于承载滤膜的平面圆基板,以及作为压紧环的顶盖组件,确保滤膜平整固定于基板表面。顶盖环通过基板座侧面三个螺丝固定。基板座和压紧盖



Micro to Nano


SEM样品台概述


荷兰M2N供应的SEM样品台,包括多种使您更容易和更快地将样品直接装载到SEM中的样品台。样品通过在钳口间夹紧或用螺钉固定来装载。一旦样品被正确固定,样品不会松动漂移,这增加了成像和分析的空间分辨率。采用该系列样品台,也不会出现气体释放或污染问题。所有样品台既可以直接使用,也可以加装适配器与扫描电镜载物台一起使用,几乎可以与任何标准的扫描电镜完美兼容。此外,还供应台式扫描电镜的样品台。




用于SEM/EDS分析的

滤膜样品台

SEM样品台种类繁多,您可点击本文底部“阅读原文”访问M2N官网获取更多样品台信息,以便选购适合您的具体应用的样品台。限于篇幅,本文仅介绍其中的用于SEM/EDS分析的滤膜样品台(filter disc holders for SEM/EDS analysis)。

滤膜样品台采用双组件结构设计:包含一个用于承载滤膜的平面基板,以及作为压紧环的顶盖组件,确保清洁度滤膜平整固定于基板表面







产品特色

荷兰M2N供应的滤膜样品台专为固定平面圆片型滤膜而设计,以实现SEM/EDS分析。由两部分组成:用于固定滤膜的平板基座,以及作为压紧环的顶盖,可将滤膜平整地固定在基座上。顶盖环通过基座侧面的三个螺丝固定。基座和压紧环采用真空级铝合金制成,螺丝为不锈钢材质。


滤膜样品台适用于13、25、35、47、76和90mm直径的滤膜。可根据要求定制特殊直径。顶盖环边缘采用45°斜面设计,以避免铝元素对EDS能谱的干扰。滤膜样品台可用于对清洁度滤膜上的颗粒、纤维和碎屑进行SEM/EDS分析。


兼容性好,提供以下适配接口:

1. 标准销钉:适配采用标准销钉的SEM,包括Thermo Fisher、FEI、Philips、Tescan、Phenom、Aspex、RJLee、AmRay、Cambridge Instruments、Leica和CamScan等品牌的SEM

2. M4螺纹孔:兼容Hitachi SEM、FESEM和台式SEM,以及多功能

SEM样品台适配器

3. Ø14mm JEOL样品桩:兼容JEOL和带有Ø14mm连接的样品台适配器


此外还提供XL100型多功能样品台适配器用来装载多个滤膜样品台,可在SEM样品室内同时固定最多4个F13/F25/F35/F47规格的滤膜样品台。XL100可用于带销钉样品桩或M4螺纹孔的滤膜样品台。


参数规格表:


详细订购信息:






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经营范围:电子光学仪器、光学仪器、分析仪器、测量仪器、仪器仪表研发及销售;计算机系统集成;计算机软硬件、工业自动化系统设计、安装、调试及技术服务
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