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锑化铟和碲镉汞探测器的对比

锑化铟和碲镉汞探测器的对比 华科德
2019-04-08
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导读:锑化铟和碲镉汞探测器的对比 ▼任何温度高于绝对零度的物体都会产生红外辐射。如何检测它的存在,测定它的


锑化铟和碲镉汞探测器的对比

   

任何温度高于绝对零度的物体都会产生红外辐射。如何检测它的存在,测定它的强弱并将其转变为其他形式的能量以便应用,便是红外探测器的主要任务。红外探测器是红外系统中最关键的元件之一。

本文介绍了目前应用最广泛的两种制冷探测器。并对其发展现状和优缺点进行了分析。

锑化铟和碲镉汞探测器与光谱截止波长和工作温度的关系:



工作温度(K)

300

190

80
1.5~60
制冷方式
室温

四级热电,氟利昂13,干冰

液氮、单级机械制冷

二级、三级机械制冷,液氖,液氢或液氦

锑化铟

7.0
6.1
5.5
5.0

光伏碲镉汞

1~3
1~5
3~12
10~16

光导碲镉汞

1~11
3~11
5~25
12~25


一:锑化铟探测器

1.1 锑化铟探测器概述

光伏InSb80K工作温度下中波性能最佳的一种探测器。

1)InSb材料高度均匀,与平面注入工艺相结合使InSb阵列响应率的均匀性达到最佳。现已有多种扫描和凝视用InSb阵列产品。

2)InSb探测器由于是III-V族半导体材料,稳定性较好,性能不随时间和存储时间发生变化。保证了InSb探测器的成像系统调试完成后,在用户使用过程中不需要时常进行采样修正探测器的工作,在武器系统中不需要增加额外采样机构,使武器系统更加简单可靠。

3)由于InSb材料缺陷少(EPD<50/cm2),所以InSb探测器的暗电流较低,器件响应的线性度也较好,可以用于F数较大的武器系统,例如F数5.8的红外探测器系统只能采用InSb探测器才能保证较好的灵敏度。这对武器系统非常重要,可以降低武器系统的光学口径,提高光学系统的焦距,从而探测距离更远。

4)工作温度增加,InSb光谱响应的长波限向长波方向移动,但器件的热噪声也迅速增加。尽管如此,在高背景下,InSb探测器的工作温度升到145K还是可行的,这对卫星应用是十分有利,因为可采用辐射制冷达到这一温度。

5)目前状态:国外主要发达国家和地区已经很好地掌握了InSb晶体生长和探测器加工技术,探测器规模实现128×128、320×256、2K×2K4K×4K以及6000×1、2048×16等实现全面覆盖,工作温度提高到95K110K130K。

6)发展方向:

1:中波红外应用方面具有绝对优势:制导、反导、成像探测、航天应用全覆盖;单元、多元、128×128、640×512、2K×2K探测器规格全覆盖。

2:低温工作探测器成熟生产,探测器价格逐渐降低。

3:大规格探测器广泛应用。

4:高灵敏、数字化探测器全面应用,在采用数字读出电路,改善了探测器的加工工艺,在F数2下,NETD能小于5mK5:高温工作探测器全面发展。


1.2 优缺点分析

优点:

1)80K工作温度下中波性能最优的一种探测器。

2)材料稳定性好,性能不随工作时间和存储时间发生变化,用户使用简单可靠。

3)暗电流较低,器件响应的线性度也较好,可用于F数较大的武器系统。

缺点:

1)只能用于中波红外。


二:碲镉汞探测器

2.1 碲镉汞探测器概述

1)碲镉汞HgCdTe材料有宽的光谱覆盖范围。HgCdTe材料,通过调节Cd的组分,HgCdTe的带隙可以实现在0~1.6eV之间的连续变化,而且其所对应的波长能够完全覆盖短波、中波、长波和甚长波等整个红外波段。光伏HgCdTe探测器响应的截止波长一般小于12μm,长波红外的HgCdTe探测器工作必须制冷至80K,中波红外HgCdTe探测器可以在175~220K温度下工作,制冷方式采用热点制冷。短波红外的HgCdTe探测器可以在更高的温度甚至室温下工作。光伏HgCdTe量子效率更高,不加抗反射镀层的量子效率已超过65%。

2)在同样的温度下,HgCdTe材料热激发载流子产生的暗电流最小。因此,在相同的灵敏度要求的条件下,HgCdTe探测器可以在更高的温度下工作,这使得截止波长3μm的碲镉汞短波红外探测器成为可采用热电制冷工作的探测器。随着HgCdTe材料和器件的进步以及制冷技术的提高,甚至中波HgCdTe探测器也可能成为采用热电制冷工作的探测器。

3)HgCdTeHgTeCdTe的合金化合物,而HgTe的键合力很弱,这就使得Hg1-xCdxTe的整体结合不稳定,导致其均匀性和成品率不太理想。

6)HgCdTe红外探测器的前沿发展:

1:大规模探测器阵列技术。

2:甚长波HgCdTe红外探测器技术。甚长波红外器件的HgCdTe材料需要具有很低的Cd组分,并且Cd组分的微小变化对截止波长就会影响很大,并且对其进行精确控制的难度很大。目前新型n-on-p工艺使得55K有效像元率为99.6%;新型p-on-n二极管的结构能够将暗电流下降2个量级,对于提高甚长波红外探测器的工作温度非常有益。

3:HOT碲镉汞探测器技术。在不牺牲焦平面阵列性能的同时,提高器件的工作温度可以减小冷却系统的功耗,提高冷却效率,增加制冷机的寿命,从而可以实现更小的成像设备以及更轻的探测器系统。探测器的暗电流会岁温度的增加呈指数级上升,故减小暗电流是重点。改进方向:工艺改进、p-on-n结构改进、势垒型结构以及陷光结构。

4:超光谱探测器技术。超光谱探测所涉及的波段数目远远大于多光谱探测,包含了更多的信息,可以解决更复杂的目标探测和分类问题。

5:双色/多色HgCdTe探测器技术。由于能够探测来自目标的两个波段的强度,双色探测器可以得到目标的绝对温度,大大提高了对目标的识别能力。目前,双色器件阵列的有效像元率和NETD俱佳,基本接近单色器件的水平。

6:HgCdTe雪崩光电二极管。雪崩光电二极管的灵敏度可以高2个量级,速度可以快4个量级;匹配快速CMOS电路后就能满足主动成像的要求。


2.2 优缺点分析

优点:

1)红外波长全覆盖。光电响应覆盖1~3μm、3~5μm、8~12μm三个红外“大气窗口“以及18μm以上长波红外波段。

2)具有中波红外、长波红外和超长波红外的波长灵活性和多色能力。并且第三代红外探测器的发展中,此工作已经取得了很大的进展。

3)载流子浓度低,常数小等有利于探测器少数载流子寿命长;电子空穴有效质量比大,电子迁移率高,介电性能好。

缺点:

1)HgCdTe材料制备困难、均匀性差、器件工艺特殊、成品率低。


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