德擎产品介绍 ｜ OTS 光学断层扫描测量仪

OTS（Optical Tomography Scanner）光学断层扫描测量仪采用光学相干断层扫描成像技术，实现微米级的高精度测量，不受材质和颜色的影响。高速扫描振镜结合远心镜头，可无死角地在线测量三维形貌及检测品质。

可应用于工件扫描、芯片扫描、电路板扫描等场景，稳定可靠，能广泛应用于多种复杂场景和生产环境。