
一
什么是AMC?
在微电子制造过程中,空气中危害生产工艺和产品品质的化学物质,统称为“分子级污染物” ,英文简称“AMC”。
二
AMC的分类
酸性(MA):能够接受电子(受主)的化学腐蚀性气象物质。如氟化氢、二氧化硫等。
碱性(MB):能够施于电子(施主)的化学腐蚀性气象物质。如氨气、六甲基二硅醚等。
可凝性(MC):常温常压下,能够在干净表面(如硅片)凝结的气象物质。如硅烷,二丁基甲酚、大分子碳氢化合物等。
掺杂性(MD):能够改变半导体材料导电性的化学物质。如硼、磷等。
三
AMC的危害
1、 栅底氧化:栅底的氧化层内必须维持非常低水平的导电参杂物,任何掺杂物都会影响“源”到“漏”的电流量,因此任何性质的物质都会对栅底氧化层造成危害。
2、 多晶硅/硅化合物合成:采用自对准多晶硅/硅化合物复合结构,是硅与某些难熔金属或硼的复合物,在低硅含量下表现为金属,在高硅含量下表现为半导体,因此,工艺对酸性气体敏感/
3、 接触成型:芯片中各个电子器件之间要相互连接起来,这需要用到多种不同的金属触点,金属触点的成型对酸性气体最敏感。
4、 光刻:DUV光刻工艺是一种激光微加工技术,他涉及到涂敷光刻胶、曝光、显影等多个过程。DUV的酸性显影剂容易被空气种的碱性物质中和,从而产生显影缺陷,因此对碱性气体最敏感。
文章参考于:浅谈用于微电子制程中化学过滤器-豆丁网(docin.com)

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