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踩在“表面效果”和“加工效率”最优平衡点上的COPOL-136碳化硅衬底精抛液

踩在“表面效果”和“加工效率”最优平衡点上的COPOL-136碳化硅衬底精抛液 博来纳润
2024-03-16
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随着第三代宽禁带半导体材料SiC应用的快速推进,对SiC衬底表面的加工精度和表面质量的要求越来越高。实现衬底表面原子级平整、降低表面缺陷和亚表面损伤,对于提高SiC基电子器件的性能至关重要。由于SiC作为典型的脆硬性材料,在研磨抛光过程中极易产生微裂纹、表面划痕、亚表面损伤等缺陷,所以精抛作为SiC衬底加工的最后一道抛光工序,对表面质量具有决定性的作用。因SiC具有很高的化学惰性和材料硬度,而精抛液相对温和的化学作用以及所用硅溶胶磨料的低材料硬度,精抛的加工效率和去除速率均较低。

博来纳润COPOL-136精抛液提供了SiC衬底加工CMP工艺良好解决方案

博来纳润COPOL-136是一款A、B双组分构成的精抛液,搭配绿色环保的双氧水(H2O2)混合均匀后使用。其采用高度分散的平均粒径为100nm的硅溶胶作为磨料,在快速提高抛光去除速率的同时不会造成表面划伤及亚表面损伤。

COPOL-136的基本物性参数如下:

COPOL-136的使用参数及相关抛光表现如下:


COPOL-136在上述工艺条件下,Si面的去除速率可达到132nm/h,抛光后衬底表面的粗糙度可降低至0.06nm。与市场上常用的精抛液Fujim*09*相比,COPOL-136连续抛光6小时后速率可维持在122.7nm/h,具有更高的抛光速率以及更优异的稳定性,能够有效减短加工时长,提升效率。

博来纳润COPOL-136及博来纳润精抛垫DPN-50W的搭配使用,使得抛光速率大幅提升

COPOL-136搭配阻尼布精抛垫DPN-50W在不同的压力条件下抛光速率可大幅度提升,抛光压力分别为200g/cm2和300g/cm2时,Si面的去除速率可达到194.5nm/h和246.7nm/h。同时抛光后衬底表面的粗糙度低、表面缺陷少、易清洗、产品良率高。

搭配DPN-50W的数据

另外,我司可以根据客户不同工艺需求提供定制化服务,同时可为客户的CMP工艺提供专业化技术诊断和支持。欢迎对碳化硅精抛液有需求的伙伴洽谈合作,请call小润:19921377278

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