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产品介绍
高真空检漏仪是透射电镜原位系统的重要配套设备，在进行每一次原位实验时，都必须经过高真空检漏仪的检漏测试，以确保原位样品杆及原位芯片的密封状态，防止对电镜产生损坏。因此，高真空检漏仪的可靠性、单次检漏的耗时是影响客户体验的重要因素。超新芯科技秉持客户第一的理念，对产品持续进行迭代升级。希望客户不仅能用好原位系统，也希望原位系统越来越好用。
CHIPNOVA High Vacuum Leak Checking Station
设计优化
02
经过持续不断的设计优化，超新芯高真空检漏仪迎来了2.0版本，检漏耗时及极限真空等性能均得到了提升。
①检漏耗时减少：达到4.6×10-6hPa，耗时减少30%；达到1.0×10-6hPa，耗时减少50%。
（测试数据源于超新芯LAB，@26℃）
②极限真空提升：连续工作20h，真空值~10-8hPa，相同测试时间内的真空值提升一个数量级。
（测试数据源于超新芯LAB，@26℃）
03
配置清单
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