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NFC 论坛组织参访 DEKRA 林口 IoT 实验室并进行最新技术讨论

NFC 论坛组织参访 DEKRA 林口 IoT 实验室并进行最新技术讨论 DEKRA德凯
2016-12-07
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导读:NFC 技术讨论会议在DEKRA 林口 IoT 实验室圆满举行。
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DEKRA,迎接物联网挑战


NFC 技术讨论会议圆满举行

近日,由 NFC 论坛组织(以下简称“NFC Forum”)与 DEKRA 共同举办的 NFC 技术讨论会议在 DEKRA 林口 IoT 实验室圆满举行。苹果(Apple)、恩智浦半导体(NXP)、索尼(SONY)等作为 NFC Forum 成员参与此次会议,共同探讨未来 NFC 传输技术的规格跟范畴以及测试的规范准则。


DEKRA 台湾电磁兼容与无线通信总经理梁文森先生应邀出席会议,并致开场词。会议结束后,邀请 NFC Forum 与参会人员共同参观 DEKRA 林口 IoT 实验室。



梁文森先生带领与会嘉宾参观实验室


 NFC 市场增长空间大 

近距离通信(Near Field Communication, NFC)是一种短距高频的无线电技术,NFC 技术让现今很多的智能手机、销售点设备和平板电脑能够通过触控来与其他设备进行通信,完成支付、交换或收集数据等操作,例如:Apple Pay


预计在 2020 年,全球市场上将会有近 400 亿互动连接设备,其中将有超过 10 亿具备 NFC 功能的设备。因此,NFC 设备与设备之间稳定性、互操作性及安全性也越来越重要,尤其是在交通、物联网以及支付领域。


DEKRA 全资子公司 AT4 wireless 作为 NFC Forum 成员之一,在 2015 年获得 NFC Forum 的授权,成为其认证测试实验室(ATL),标志着 DEKRA 在 NFC 领域的测试能力、技术实力、质量管理、服务水平等方面有了全新的提高和突破。


今年启动的  DEKRA 林口 IoT 实验室将针对物联网的安全问题,提供顶尖的网络安全技术和一站式检测服务,满足因应物联网发展而延伸的各项装置无线通信连接的检测需求。



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