2025年9月10日至12日，SEMI-e深圳国际半导体展暨2025集成电路产业创新展在深圳国际会展中心（宝安新馆）举行。展会聚焦“IC设计与应用”“IC制造与供应链”“化合物与半导体”三大主题，吸引超1000家全产业链企业参展。
微崇半导体亮相多款核心检测设备
微崇半导体携二谐波晶圆检测设备ASPIRE3000、离子注入量测设备BRAVERY3000及全自动超声波缺陷检测设备CLARITY3000等多款产品亮相，全面展示其在半导体量检测领域的技术实力。现场，微崇团队结合不同生产环节的痛点，为客户提供了定制化的量检测解决方案，并深入解析设备的技术原理、应用场景与核心优势。
行业领导莅临指导 共谋发展路径
科技部原副部长、国家新型显示技术创新中心理事长、季华实验室理事长曹健林，国家02专项总师、中国科学院微电子研究所原所长叶甜春等多位行业领导参观微崇半导体展位，与公司董事长兼总经理黄崇基深入交流，就企业发展方向提出专业建议。
汇聚行业智慧 推动技术协同
多位珠峰论坛行业专家到访微崇展台，围绕当前产业痛点与未来技术需求展开交流。微崇团队积极回应各方建议，表示将持续优化产品与服务，深化客户对接，拓展合作领域，助力半导体行业高质量发展。
高层发声：共话检测技术创新与国产化发展
周朴希分享创新型量检测技术突破
9月11日，微崇半导体副总裁周朴希在“半导体分析测试应用与设备联动发展论坛”及“集成电路检测与测试创新发展论坛”发表题为《创新型量检测技术解决半导体量检测难题》的主旨演讲。他通过多个研究案例，系统阐述了公司在量检测领域的创新成果，重点介绍二谐波技术在界面电学缺陷与晶格质量检测中的独特优势，为行业提供关键技术参考，获得现场高度认可。
毛春伟剖析国产量检测设备市场现状
同期举行的第27届集成电路制造年会暨供应链创新发展大会（CICD 2025）上，微崇半导体副总裁毛春伟于9月12日在“IC制造与生态发展论坛”发表《国产量检测设备市场的现状与思考》主题演讲。他系统分析了国产设备市场的格局、机遇与挑战，客观总结技术进展，并针对产业链协同、核心技术攻关等问题提出建设性观点，引发业内广泛讨论。
