G B/ T 2 4 23的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验 Ab和试验 Ad与早期 版本无实质性的差异”， 增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都 要通电运行的设备。 本 低温试验的目的仅限于用来确定元件、 设备或其他产品在低温环境下使用、 运输或贮存的能力。 本 低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力， 在这种情 况下， 应采用 GB/T 2423. 22.
本 低温试验方法细分为以下几种: — 非散热试验样品低温试验: . 试验 Ab, 温度渐变。 — 散热试验样品低温试验: 试验Ad, 温度渐变; 试验 Ae, 温度渐变， 试验样品在整个试验过程通电。 本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。
G B/T 2421 电工电子产品环境试验 第 1部分: 总则( GB/T 2421-1999, i dt I EC 600681: 1988) G B/ T 2 4 22 电工电子产品环境试验 术语( GB/ T 2 42 2 -1 9 95, e g v I EC 6 0 06 8 5 2: 1 9 9 0) G B/T 2423. 22 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 N: 温度变化(GB/T 2423.22 2002, I EC 60068214: 1984， I DT) G B/T 2424.
电工电子产品环境试验 高温低温试验导则( GB/T 2424. 1-2005, I EC 600683 1: 1974, I DT) G B/T 2424. 5 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认(GB/T 2424. 5-2006, I EC 60068 3 5: 2001, I DT) G B/ T 2 4 2 4. 7 电工电子产品环境试验 试验 A和试验 B( 带负载)用温度试验箱的测量 (GB/T 2424. 7-2006， I EC 6006837:2001，I DT) I EC 6 07 2 1( 所有部分) 环境条件分级
作空间低气流速度 l o w a i r v e l o c i t y i n t h e wo r ki n g s pa c e 指 工作空间的调节气流速度， 能维持设定的条件， 但也足够低， 以致试验样品上任意点的温度不会 由于空气循环的影响而降低5K以上( 如果可能， 不大于0 . 5 m/ s )
2作空间高气流速度 hi g h a i r v e l o c i t y i n t he wo r ki n g s p a c e 指 工作空间的调节气流速度， 为了维持设定的条件， 同时使得试验样品上任意点的温度由于空气循 环的影响而降低 5K以上。
非散热试验样品与散热试验样品试验方法应用对比
总则
温 度试验箱的制造和确认按照GB/ T 2 42 4 . 5和GB/ T 2 4 2 4 . 7的规定进行。 高 温和低温试验导则见GB/T 2 4 2 4. 1，
总则见GB/T 24 21, 3 ' 只 有在以下情况下， 才认为试验样品是散热的: 当温度达到稳定时( 见GB/ T 2 4 21中相应内容)， 在 自由空气的条件下( 例如， 低气流速度循环) 测量的试验样品表面最热点的温度超过试验样品周围空气 温度5K以上。当相关规范要求进行贮存或运输试验， 或未指定在试验期间施加负载， 低温试验 Ab是 适用的。
工作空间是高气流速度或是低气流速度的确定 在 测量和试验的标准环境条件下( 见GB/ T 2 42 1 )， 以及气流速度<0. 2 m/ s
， 按照待试验的低温条 件下的规定给试验样品通电或加电气负载。 当 试验样品的温度达到稳定， 应使用合适的监测装置测量试验样品上或其周围若干个有代表性的 位置的温度。之后，每一个位置的温升应予以记录。 开 启试验箱的通风装置使空气循环， 当温度达到稳定时， 重新测量上述位置处的温度。如果此次测 得的温度与上次无空气流动时测得的温度相差超过 5K( 或相关规范规定的其他值)， 应在检测报告中 记录这些温度值， 并且认为该试验箱具有高气流速度循环。然后给试验样品断电， 并去掉任何负载 条件。
非散热试验样品的试验 在 温度渐变试验Ab中， 试验样品放人处于试验室温度的试验箱中， 然后慢慢降低试验箱中温度， 防止由于温度改变而对试验样品产生有害作用。建议采用高气流速度循环， 因为这样可以减少达到温 度稳定所需要的时间。
散热试验样品的试验4 ) 试 验Ad和试验Ae描述了散热试验样品在低气流速度循环下的试验程序。这允许试验样品的局 部发热点在其内部扩展的情况， 类似于安装后的产品在应用中发生的情况。
温度监控 应 使用温度传感器来测量试验箱里的空气温度， 温度传感器的位置离试验样品的距离应确保其受 热扩散的影响可忽略不计。应适当注意以避免热辐射影响这些测量， 更多信息见GB/ T 24 2 4 .5.
包装 对 于贮存和运输试验， 设备可以带包装进行试验。然而，由于本部分规定的低温试验是稳态试验， 设备最终将稳定在试验箱温度， 所以， 应去掉包装进行试验， 除非相关规范要求带包装， 或者发热元件是与包装合为一体的。
试验描述
总则 试 验Ab、 试验Ad和试验Ae是相似的， 差异见5 . 2. 2, 5 . 3. 2和5 . 4.
2， 从第6章开始的其他部分是 这些试验共同的。试验箱内的温度变化速率不应超过1
K/mi n( 不超过5 mi n时间的平均值)。相关规 范应规定试验样品试验时的功能要求。 应 注意试验样品的任何冷却装置要符合相关规范的要求。 5. 2 试验Ab: 非散热试验样品温度渐变的低温试验
目的 本 试验方法用来进行非散热试验样品的低温试验， 试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到 温度稳定。
概述 将 试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中， 然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级 温度。当试验样品温度达到稳定后， 在该条件下暴露到规定的持续时间。对于试验时需要通电运行的 试验样品( 即使它们不属于散热试验样品)， 应在试验样品温度达到稳定后通电， 根据需要进行功能检 测。这种情况下， 可能还需要一段时间达到温度稳定， 然后试验样品在该低温条件下暴露到相关规范规 定的持续时间。 试 验样品通常在非工作状态下进行试验。 本 试验通常采用高气流速度循环。
试验 Ad: 散热试验样品温度渐变的低温试验— 试验样品在温度开始稳定后通电
目的 本 试验方法用来进行散热试验样品的低温试验， 试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温 度稳定。
概述 如 果需要， 可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放人温度为试验室温度的试验箱中， 然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。
给 试验样品通电或加电负载， 检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。试验样品应 按照相关规范规定的工作循环和负载条件( 如可行时) 处于运行状态。 当 试验样品的温度达到稳定后， 在该条件下暴露到相关规范规定的持续时间。 本 试验通常采用低气流速度循环。
试验Ae: 散热试验样品温度渐变的低温试验— 试验样品在整个试验过程通电
目的 本 试验方法用来进行散热试验样品的低温试验， 试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温 度稳定， 并且要求试验样品在整个试验过程中通电
概述 如 果需要， 可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放人温度为试验室温 度的试验箱中， 给试验样品通电并根据需要进行功能检测, 然 后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。当试验样品的温度达到稳定后， 在该条件 下暴露到规定的持续时间。 本 试验通常采用低气流速度循环
给试验样品通电 然 后给试验样品通电或加电负载， 检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。 试 验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件( 如可行时)处于运行状态。
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附 录 NA ( 资料性附录) GB/T 2 4 2 3标准的组成部分
除 本部分外， GB/ T 2 42 3标准的其他组成部分如下: G B/T 2423.
2-2008 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 B: 高温 (I EC 600682
2: 2007, I DT) G B/ T 2 4 2 3.
3 -2 0 0 6 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验 Ca b: 恒定湿热试验 (I EC 60068 278: 2001, I DT) G B/ T 2 4 2 3.
4 -2 0 0 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Db 交变湿热( ( 1 2 h+ 12 h循环)(I EC 600682 -3 0: 2005, I DT) G B/ T 2 4 2 3.
5 -1 9 9 5 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 Ea和导则: 冲击 (i dt I EC 600682 27:1 987) G B/ T 2 4 2 3.
6 -1 9 9 5 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 Eb和导则: 碰撞 (i dt I EC 600682 29:1 987) G B/ T 2 4 2 3.
7 -1 9 9 5 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验 Ec和导则: 倾跌与翻 倒( 主要用于设备型样品)( i d tI EC 60 0 68 2 31: 1 9 82 ) G B/ T 2 4 2 3.
8 -1 9 9 5 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 Ed:自由跌落 (i dt I EC 600682 32:1990) G B/ T 24 2 3.
1 0 -2 0 0 8 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验Fc: 振动( 正弦) (I EC 6006826: 1 995，I DT) G B/ T 24 2 3.
1 5 -2 0 0 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速 度( I EC 60068 -2 7: 1986， I DT) G B/ T 24 2 3.
1 6 -2 0 0 8 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 J和导则: 长霉 (I EC 60068210: 2005， I DT) G B/T 2 4 23 .
1 7 -2 00 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka: 盐雾( I EC 6 0 0 6 8 2 11: 1981,
I DT) G B/T 24 2 3.
1 8 -2 0 0 0 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验Kb: 盐雾， 交变( 氯化 钠溶液) ( i d t
I EC 6 00 6 8 2 5 2: 1 9 9 6) G B/ T 24 2 3.
2 1 -20 0 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验 M: 低气压试验方法 (I EC 60068213: 1983， I DT) G B/ T 2 42 3 .
2 2 -2 00 2 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 N: 温度变化 (I EC 60068214: 1984, I DT)
G B/T 2423.
23-1995 电工电子产品环境试验 试验 Q: 密封 G B/ T 2 42 3 .
2 4-1 9 9 5 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验 S a: 模拟地面上的太 阳辐射(i dt I EC 600682 5: 1975) G B/ T 2 4 23 .
2 5 -2 00 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Z/ AM: 低温/ 低气压 综合试验( I EC 6 0 0 68 2 4 0: 1 97 6, I DT) G B/ T 2 4 23 .
2 6 -2 00 8 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Z/BM: 高温/低气压 综合试验( I EC 60 0 6 8 2 4 1: 1 9 76, I DT) G B/ T 2 4 23 .
2 7 -2 00 5 电工电子产品环境试验 第 2部分: 试验方法 试验 Z/ AMD: 低温/ 低气 压/ 湿热连续综合试验( I EC 6 0 06 8 2 3 9: 1 9 7 6, I DT)