蔡司 | GeminiSEM应用案例-材料科学

使用 3D STEM 断层扫描成像，拓展您的应用

3D STEM 断层扫描成像

现在您可以自由地在 FE-SEM 上进行自动STEM 断层扫描成像。一个用于自动采集STEM 倾斜系列的脚本使用了 API，执行了优中心的旋转和倾斜移动以及自动对焦和图像采集。特征跟踪可补偿整个倾斜系列的偏移，并保持两个图像之间的漂移最小约 50 纳米。STEM 样品夹允许倾斜到 60 度和旋转到 180 度，aSTEM 探测器涵盖了所有需求。最后，通过 3D 重构软件渲染获得样品的 3D 模型。

蔡司 GeminiSEM 应用案例：材料科学

今天的纳米科学和纳米材料研究已经为明天的创新奠定了基础。科学家们将需要理解和控制纳米结构来推进现有技术的发展，同时他们也会被前景所驱动去开发可以带来全新的产品和工业流程的新材料。纳米技术的不断进步是改善电子和通信器件的先决条件，使其具有更强的处理能力且制造和运行成本更低。一些以纳米材料为原材料的催化剂促进了能源和资源的有效利用，而其它纳米材料则被用于水和空气处理。纳米传感器使我们的环境更加安全；在医学上纳米科学常用来改善医生的诊断和病人护理。在这些方面的研究上，蔡司FE-SEM 都是科学家们获得对纳米材料必要的理解和推进纳米科学、纳米材料研究不可或缺的工具。

典型的任务与应用

• 表征纳米电子和光子器件的结构、完整性和失效性

• 对敏感样品进行成像如二维材料，同时避免主要的电子束损伤、荷电效应或图像失真

• 研究高分辨率下纳米磁性和纳米力学，表征材料的表面形貌，分析其元素组成

• 创建和评估纳米流体实验器件的质量

蔡司 GeminiSEM 的优点

• 高分辨率成像——揭示材料和器件的纳米结构

• 用于设备原型设计的电子束光刻技术

• 连接多尺度的显微镜分析

• 不同的成像和分析模式相结合，使您可以从样品中获得尽可能多的信息

蔡司 GeminiSEM 应用案例：材料科学