日立 | 手持式 X 射线荧光分析仪 | X-MET8000

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 分析仪，可提供快速无损的分析以及准确的牌号识别，实现理想的质检和质保。

该分析仪将高性能 X 光管和大面积硅漂移探测器(SDD) 结合在一起，能够为客户

提供各种质量检验应用。

借助 X-MET8000，您可在数秒内得到实验室质检结果，并降低检测成本，

缩短检测时间。

性能特点

分析结果精确

X-MET8000 完美结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法（可溯源的标准物质），可提供超高的分析精密度和准确度。

性能优异

该分析仪提供对轻元素（Mg 到 S）的出色分析，可快速测试大多数商业用合金，

包括铝合金、硅和铝青铜等。其提供低检测限制，可准确区别相近牌号（例如303-304、6061-6063），

并可在数秒内得到实验室质检结果。

易于操作

直观的图标驱动式用户显示意味着操作员

几乎不需任何培训。该分析仪拥有便于

快速制定决策的可自定义结果屏幕，

同时显示您所需的重要信息。

采用了符合人体工学的设计，

因此操作舒适，适合日常使用。

准确

样品尺寸自动补偿，可准确测试直径

小至 1 毫米的管材、杆体、线材，以及焊缝、紧固件、车削下脚和碎屑等。

结构旨在经久耐用

X-MET8000 具备 IP54 防护等级，

有着卓越的防尘和防水性能；具有耐冲击外壳，且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶，可有效防止受到

撞击；采用大面积散热器，即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性；防护窗口可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。

强大的数据管理功能

可存储多达十万个检测结果，使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告（无需安装任何软件）。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用，您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。

全面的、可自定义的牌号库

X-MET8000 内含有最全面的牌号库：

预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金，用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号。