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NIKON FPD/LSI 检查显微镜 L300N-L200N-系列主要应用电子通讯领域的零部件检查,如硅片、液晶显示屏、金相检测等。
增强的观察性能和操作
反射荧光观察方式拓宽了检查范围—包括 365 纳米 UV 激发
🔹在检查半导体抗蚀剂残留物和有机电致发光显示器时非常有用。
🔹各种观察方法，如明场、暗场、简单偏光和 DIC 在所有型号上都是可能的。
🔹L300ND/L200ND 的透射照明能力通过透明基板增加了照明。
🔹仅L300N/L300ND/L200ND
易于操作的正面操作
• 最大限度地减少长时间观察期间的疲劳
目标更容易聚焦
• 在光路中插入聚焦目标，轻松聚焦低对比度样品，例如裸晶圆。
L200N
用于ø200 mm 晶圆/反射照明型
L200ND
用于ø200 mm 晶圆/反射和透射照明型
更强大的污染防护
• 机身、载物台、目镜筒等各种控制器的防静电涂层
• 防止损坏样品并有助于提高产量
在最佳视点水平观察
• 超宽 25 毫米视野和 0° 至 30° 之间的目镜角度调节
固定位置 X-Y
精细运动控制
《LED》
紧凑型 LED 照明器节能且使用寿命长。
聚光灯
• 用于落射荧光观察的电动水银预居中光纤照明器，具有可变光强度和快门控制，提供出色的灵活性。
不需要灯中心和焦点调整。
*仅限L300N/L300ND/L200ND
过滤块
用于落射荧光观察
• EPI-FL UV-2A
• EPI-FL B-2A
• EPI-FL V-2A
• EPI-FL G-2A
• EPI-FL BV-2A
*仅限L300N/L300ND/L200ND. 只能连接一个立方体。
数码相机
只需在平板电脑上安装 NIS-Elements L 即可设置和控制 DS-Fi3/DS-Ri2 显微镜相机、实时图像显示和图像采集。
NIS-Elements L 可以通过输入线条和注释对图像进行简单测量。这些也可以写入图像并与图像一起保存，并且可以输出测量数据。
可以选择十种相机设置模式，以针对每种显微镜光源、观察方法和样品类型以及自定义设置，实现最佳色彩再现和对比度。
EDF (扩展的焦深)
从不同焦点的图像创建单个全焦点图像。
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只需一个镜头即可实现明场、暗场、简单偏振、敏感偏振、微分干涉和落射荧光观察。 实现卓越的色差性能和长工作距离，适用于所有放大倍率，以适应任何应用。
使用相位菲涅耳透镜，这些物镜可实现长工作距离，同时提供比传统物镜更高水平的色差校正。 这提高了不同高度样品的可操作性。
通过使用相位菲涅耳透镜，这些物镜实现了显著更长的工作距离，同时保持了复消色差透镜的卓越色差性能。
