测量显微镜STM7系列

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无论样品大小、简单还是复杂，或执行测量的人员经验如何，奥林巴斯STM7系列可提供符合您需求的测量显微镜。

优异的光学性能

STM7系列采用了当前先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。

花岗岩精制而成的载物台基座增强了测量的可靠性

为了进一步保证测量准确度，STM7系列产品采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。这样的稳定性支持亚微米级的测量，同时可确保最小误差。

以便于使用的方式提供高精度三轴测量

随着现代制造技术变得越来越小型化和准确，高精度测量变得愈发重要，不仅是在XY轴上，而且Z轴方向的高精度测量也成为必须。我们成为首家成功开发了测量显微镜用采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统的公司，以此响应了这种与日俱增的需求。

基于严格可追溯系统的可靠质量

奥林巴斯测量显微镜的准确度由严格的可追溯系统控制，甚至在安装时提供可追溯校准。

样品的载物台

有三种载物台供您选择，可提供不同的测量行程（100 mm x 100 mm、200 mm x 200 mm和300 mm x 300 mm）。无论是测量小尺寸还是大尺寸样品，都有适合待测量样品的相应载物台。

更多倍率选择和长工作距离

STM7可同时安装金相物镜和测量物镜，只需将一个物镜转盘换为测量物镜适配器。这意味着STM7将金相和测量光学元件整合到了一个显微镜中。 因此，STM7系列产品可满足多种需求，无论是测量大面积还是小区域，或是表面高度差异大的样品，STM7系列都可以对应并协助用户选择适合的观察方法。

测量物镜

因为测量物镜的工作距离很长，所以用户可以放心得聚焦峰谷较大的样品，同时减少对物镜与样品接触的担忧。此外，借助测量物镜的低倍率能力，可以一次观察到较大的区域。

金相物镜

使用金相物镜可进行与光学显微镜相当的高倍率、高分辨率观察。此外，这些物镜可以用于明场、暗场和DIC观察。

控制器

STM7系列产品使用一个控制器执行几乎所有的测量显微镜操作，包括使用读数重置、照明控制、聚焦和自动聚焦。为了提高效率和便利性，您可以将该装置放在任何想要放置的位置，并可以单手轻松操作。

使用可拆卸数显表快速检查测量结果和设备状态

指示器将显示设备状态和设置。X、Y和Z轴的最小单位可以在0.1 μm和1 μm之间切换。显示单位可在毫米、微米、英寸和密耳之间切换。

可拆卸计数器支持个性化的需求和自由放置

无论是安装到镜架上还是放置在工作台上，可拆卸计数器的放置取决于用户个人。用户站着进行测量时，可以将计数器安装在与观察位置大致相同高度的镜架一侧，以便于查看。以坐姿操作时，例如通过数码相机在显示器上观察或测量时，或使用电动Z轴聚焦型号时，将计数器和手动控制器放在桌面上即可。

具有出色可重复性的简单、准确聚焦系统

奥林巴斯的聚焦导航系统通过将图案投影在视场范围内，并由操作员确认上下图案的重合情况，可为高度测量操作带来高重现性。在常规目视观察下进行高度测量时，即使是看上去非常清晰的已经完全合焦的图像，也会出现微小误差。然而，聚焦导航器能够通过匹配标记来简单地进行测量，从而减少了操作员对测量结果的主观影响。

快速、准确、无偏差的聚焦和测量

我们为STM7系列产品开发了专用的自动聚焦单元，提供出色的可再现性和快速聚焦。因此，无论操作员的经验如何，都可在短时间内实现更为准确的高度测量。

高级测量软件

准确、快速、简单地测量形状复杂的物体

能否清晰、轻松地看到测量显微镜的输出显示内容至关重要。这就是打造支持在更高准确度下完成复杂测量的新一代奥林巴斯测量软件的原因。该软件还支持使用数码相机。

放置样品并开始测量——无需平行对齐

直接测量

通过使用STM7接收坐标输入值来进行测量。

调用测量

经过测量和计算后，可在后续测量再次使用坐标。这样便无需重复作业，实现了更顺畅和高效的工作流程。

虚拟点测量

交点、中心点、长度和一系列其他测量可以通过绘制直线和圆来进行，然后可以将其保留并设置为所采集样品图像上的参考点。

对齐测量

相对原点和X轴设置样品，即使样品未与载物台对齐，也可测量。

XZ平面测量

传统测量显微镜直接从上方测量XY平面。 然而，为了满足用户的需求，奥林巴斯在STM7-BSW中加入了XZ平面测量功能，支持从侧面测量横截面。现在，过去难以进行的测量变得轻松多了，例如半球形物体垂直截面的半径测量，或底部弯曲凹槽相对于参考线的深度的测量。

记录重复测量步骤

宏记录

可以将常用的对齐和其他测量步骤组合，并为其分配一个宏按钮——无需在每次设置显微镜时从头开始。

重复测量

只需在软件提示下简单地输入载物台的移动和坐标，即可基于已记录的工作流程轻松进行重复测量。此功能可用于对同一样品或其不同版本重复执行相同的测量。此外，如果在已记录的工作流程中设置了设定值和公差，当测量失败时，软件可以自动标示。

用于重复测量的测量点导航

此功能显示到下一个测量点的方向和距离，从而消除了操作员的所有困惑。该功能还消除了每次都需要在图上查看下一个测量点的必要性，加快了操作员的重复测量工作流程。

自动边沿探测

此功能可探测样品边缘，并自动获取和测量其坐标。因此，操作员不再需要指定坐标，从而最大程度消除了主观影响。自动边缘探测还提供定时器功能，可在指定时间内获取坐标，并支持使用脚踏开关，让操作员能够专注于测量操作，无需将手从载物台手柄上移开。

异常点消除

在边沿探测期间，可以自动排除金属毛刺和其他异常点。因此，无论样品的状态如何，都能够一致地计算测量值。排除的异常点也可以不同颜色显示在屏幕上。

照明控制

显微镜的光强可通过准确的软件控制来维护。记录工作流程时，也可以保存光强设置，从而在进行重复测量或自动边沿探测时，以相同条件进行测量。

自动倍率识别（可选配，仅在编码物镜转盘配置下）

通过使用编码物镜转盘，切换物镜时会自动调用之前设置的校准值。 这样用户即可完全放心显示屏上会显示正确的刻度。

可定制报告生成

一键式报告生成

只需单击一下，即可用Excel格式输出测量结果，消除了转录过程中的错误。图像还可以与测量结果一起粘贴，更高效地生成报告。

图像拼接(MIA)（可选配）

平铺多幅图像以采集单幅高倍率广域图像。因为图像是基于坐标数据平铺的，所以系统能够生成高度可靠的图像。

景深扩展图像(EFI)（可选配）

EFI功能可在表面不平整、复杂表面形状的样品上有效获得始终聚焦良好的图像。要获取一张在所有位置上都良好聚焦的图像，只需在移动Z轴的同时简单地处理焦点位置不同的多幅图像，或使用电动型号完成自动图像合成即可。