在使用真空镀膜机镀膜之后，
为了需要可能会要测量膜层的厚度，
测量膜层的厚度用什么方法呢?
小编来教你~
最直接的镀膜控制方法是石英晶体微量平衡法(QCM)，
这种仪器可以直接驱动蒸发源，
通过PID控制循环驱动挡板，
保持蒸发速率。
只要将仪器与系统控制软件相连接，
它就可以控制整个的镀膜过程。
但是(QCM)的精确度是有限的，
部分原因是由于它监控的是被镀膜的质量而不是其光学厚度。
此外虽然QCM在较低温度下非常稳定，
但温度较高时，
它会变得对温度非常敏感。
在长时间的加热过程中，
很难阻止传感器跌入这个敏感区域，
从而对膜层造成重大误差。
光学监控是高精密镀膜的的首选监控方式，
这是因为它可以更精确地控制膜层厚度(如果运用得当)。
精确度的改进源于很多因素，
但最根本的原因是对光学厚度的监控。
