FTIR光谱
FTIR光谱技术可以快速、有效地鉴别假冒伪劣电子产品，[1] 并且在打击经济犯罪各个领域的假冒伪劣产品方面，提供了重要的解决方案。随着假冒伪劣产品在时尚、制药和奢侈品等行业的渗透，其带来的风险也愈发严重。
随着技术的发展进步，电子产品中的假冒伪劣元器件问题日益严重。这些劣质元器件因质量不佳而导致故障频发，不仅带来重大风险，甚至可能危及客户安全。SI Electronics走在应对这一挑战的前沿，采用布鲁克FTIR光谱仪保障产品的完整性，保障客户安全。
黑顶技术
“黑顶（blacktopping）”是一种伪造电子元器件的方法。最初，这个术语指的是在电子元器件上添加一层涂层，用于更新或增加刻在其表面的信息。如今的黑顶技术通常是指故意覆盖集成电路外壳上的原始制造商标识。
简要流程是首先打磨掉原有标记，再涂上一层聚合物涂层，最后再添加假标签。导致一些实际上是二手或假冒的劣质的产品被伪装成全新的原厂元器件进行销售。如今的黑顶技术破坏了元器件的完整性和可靠性，可能导致故障和安全风险。
Advanced blacktopping technique
升级的黑顶技术
随着行业发展出鉴别黑顶造假技术的方法，造假者开始使用更高级的手段来规避检测。他们不再只是涂上一层薄薄的聚合物，而是将移除的材料与环氧树脂混合，来模仿原始的注型效果。
在这种情况下，溶剂测试等基本检测方法（如下图所示）已不再奏效，使用更先进检测方法显得非常必要——我们称之为“光谱界的福尔摩斯”！
图示：表面测试前（A）和后（B）的组件。图（C）显示了测试后标签上的显著颜色残留。
布鲁克LUMOS II
傅立叶变换显微红外光谱仪
傅立叶变换显微红外光谱仪（例如布鲁克LUMOS II）被广泛应用于鉴别假冒伪劣产品。通过分析可疑产品的化学成分，将测得的材料与参考材料进行比对，来揭露假冒伪劣产品。
FTIR Detection of Blacktopping
傅立叶变换红外（FTIR）技术用于黑顶检测
要理解FTIR如何揭露黑顶技术，首先，需要了解保护内部微芯片的原始外壳化学构成：它由一种非常耐用的工业灰（主要是熔融二氧化硅）与少量环氧树脂混合物组成。
为确保成分的均匀分布和注型材料的充分固化，这种混合物通过注塑成型形成最终形状。下图展示了工业灰（绿色）、环氧树脂（紫色）和原始注型化合物（蓝色）的FTIR光谱。
如图所示在原始注型化合物中，“工业灰”的谱带比环氧树脂的谱带更明显。环氧树脂的谱带仅在1500 cm-1附近出现小的吸收峰，这是因为其浓度远低于工业灰。
当造假者移除这种注型化合物，并重新涂覆时，新的涂层材料中环氧树脂含量相比原始注型化合物有显著增加。在FTIR光谱中可以清晰的观察到这一差异，环氧树脂谱带显著增强。
让我们来验证这个假设吧！
在下方的例子中，我们看到，原始注型材料（蓝色）的参考光谱和通过黑顶技术处理的注型材料（红色）之间的对比。
假冒产品在2800-3000 cm-1和1800-1000 cm-1之间的区域出现了显著的峰值。这些峰值属于额外添加的环氧树脂，在原始元器件中这些吸收峰并不明显。
Conclusion
结论
根据规范制定的标准方法，在检测假冒伪劣电子元器件方面非常奏效；但在面对全新的耐溶剂造假技术时，这些检测方法存在一定的局限性。使用FTIR光谱技术，可以轻松而准确地检测出这类假冒伪劣产品。该方法的一大优势在于具有非破坏性，可以对大批量的元器件进行检测。此外，它还能确保对高成本元器件进行彻底的测试，以保证最终产品的可靠性。
特别感谢SI Electronics质量控制与研究总监Paul Braun博士提供的信息和谱图。
[1] Braun, P. (2024, 16th April). FTIR-Spektroskopie: Neue Wege zur Erkennung gefälschter Chips. SI Electronics. Retrieved on September 17th, 2024 [https://www.elektroniknet.de/halbleiter/neue-wege-zur-erkennung-gefaelschter-chips.215905.html].
想要了解利用傅立叶变换红外技术揭露假冒伪劣产品的更多信息吗？欢迎继续阅读我们的关于鉴别假冒伪劣面料的文章吧：利用FTIR技术，鉴别伪劣织物
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