网络研讨会丨布鲁克同轴TKD技术在材料研究中的应用

转载自布鲁克纳米分析

透射菊池衍射（Transmission Kikuchi Diffraction, TKD）技术的出现让纳米晶和大变形材料的晶体学表征成为可能。布鲁克公司独家的同轴TKD技术的有效空间分辨率更是优于2nm，使得纳米尺度的晶体学分析变得更加容易。近年来，同轴TKD技术得到越来越多的关注和应用。

为了让更多的科研工作者了解同轴TKD技术的原理及其应用，布鲁克纳米分析部将邀请行业专家于2021年11月29日下午15:00-16:30为大家做详细介绍和答疑。

本次网络研讨会我们非常荣幸的邀请到上海交通大学材料科学与工程学院副教授沈朝博士，为大家介绍同轴TKD技术在纳米氧化物高分辨表征中的优势。

本次会议沈朝博士还将分享他所在的牛津大学课题组其他研究者与同轴TKD相关的研究工作，欢迎大家报名参加！

日程安排

时间：2021年11月29日下午

报名方式：点击文末“阅读原文”开始报名

注意事项：听课链接将在会议开始前通过邮箱和微信群通知，请在报名时填写正确信息！

沈朝 博士

上海市浦江学者

上海交通大学材料科学与工程学院 副教授

2018年于牛津大学获得博士学位，主要从事核电材料环境失效的高分辨表征研究。迄今，已在Acta Materialia, Scripta Materialia, Corrosion Science等行业内顶刊发表与同轴TKD技术相关的高水平论文40余篇。

禹宝军 博士

布鲁克纳米分析应用经理

2012年获得山东大学材料科学与工程博士学位，研究课题为高性能钢铁材料高温微观组织演变，主要运用TEM、SEM及EBSD研究其机理。毕业后加入江苏沙钢钢铁研究院任职研究员，擅长利用电子显微分析技术进行产品研发及失效分析。2014年加入布鲁克，负责EDS, EBSD, Micro-XRF等产品的售前售后技术支持及应用开发，有非常丰富的实际操作经验和理论水平，尤其在平插式能谱仪FlatQuad、同轴TKD等高端产品应用领域，更是具有行业领先水平。

布鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF，它们为目前可用的材料提供了最全面的成分和结构分析。同时提供微区X射线荧光光谱仪(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的台式全反射X射线荧光光谱仪 (TXRF)。