布鲁克发布桌面式三维光学轮廓仪ContourX系列拥有业界最佳的纳米级表面分析功能和易用性- 大数跨境

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布鲁克发布桌面式三维光学轮廓仪ContourX系列拥有业界最佳的纳米级表面分析功能和易用性

布鲁克公司

2022-10-27

导读：我渐渐就安于现状了，对于我的孤独，我也习惯了。总有那么多的人，追寻一些甜蜜温暖的东西，他们喜欢的永远是星星与

我渐渐就安于现状了，对于我的孤独，我也习惯了。总有那么多的人，追寻一些甜蜜温暖的东西，他们喜欢的永远是星星与花朵。但在星星雨花朵之中，怎样才能显得出一个人坚定的步伐呢。

2020年9月30日, 布鲁克发布新一代桌面式ContourX 三维光学轮廓仪。此系列产品可用于研发和制造环境中，对表面形貌和粗糙度进行计量。ContourX白光干涉测量（WLI）平台采用了布鲁克公司的一种全新的通用型自适应扫描模式 (USI模式)，可以自动确定最佳测量参数以获得最佳计量结果。同时，它还有高级PSI模式，用于进行低噪声测量并具有同类产品中最高的Z方向亚纳米级别分辨率。此外，ContourX 的5MP摄像头和全新的样品台设计大大增强了大面积拼接效果，可以拼接高达1000幅图片。这些特性和功能的结合可以在许多严苛的研究和工业应用中，为用户提供更大的便利性和更高的效率。例如研究新型材料结构和医疗、汽车和航空航天行业的组件测量，或者用于精密加工、表面质量监控和半导体制造业的高精度测量。

“从我们第一代的Wyko仪器开始到现在，布鲁克在高精度表面计量和成像领域进行了四十多年的创新。布鲁克三维光学轮廓仪以其最佳的Z轴分辨率（与放大倍率无关）以及最快的测量速度和最大的测量视野而闻名，”布鲁克公司的摩擦磨损，探针式和光学计量业务副总裁兼总经理Kent Heath说。 “通过继续突破这项技术的极限，ContourX系统在桌面式设备上提供了前所未有的测量能力。”

“ContourX是表面测量设备性能的一次真正飞跃，尤其是考虑到我们最新的USI模式。在学术研究，工业研发，微电子，光学和传感器等测量应用中，这些系统将成为在纳米级表面粗糙度和形貌学测量和测试效率方面的新标准。”全球产品经理Robert Cid补充说。

关于ContourX 三维光学轮廓仪

ContourX系列光学轮廓仪使用了Bruker独有的众多白光干涉技术专利，是业界功能最强大的桌面式计量设备，具有最易于使用的表面测量软件。它拥有三种台式型号，具有新颖、坚固的设计，并提供了一系列经过了优化的功能和价格范围，满足不同用户的各种计量和预算要求。新的硬件功能包括可实现更大缝合功能的创新样品平台设计，以及具有1200x1000数据阵列的5MP相机，可实现更低噪音，更大视野和更高横向分辨率。除了新的USI模式和高级PSI模式之外，新版软件的增强功能还包括布鲁克的全新VisionXpress界面。该界面可简单直观地使用屡获殊荣的Vision64®分析软件套件的全部功能，使这些设备可成为多用户使用时的理想选择。最新版本的VisionMAP软件更包括自定义报告和高级分析方案，进一步补充完善了光学轮廓仪的分析功能。