近日，第十届中国二次离子质谱会议在西安成功举办。会议由中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会、陕西省检验检测工业技术创新战略联盟和陕西省电子显微镜学会联合主办，西安交通大学大型仪器设备共享实验中心承办。100多位来自海内外高校、科研院所及工业界的专家学者会聚一堂，围绕二次离子质谱（SIMS）技术与三维原子探针（APT）技术的最新研究进展和应用前景进行了广泛深入的交流。

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二次离子质谱（SIMS）技术是通过高能离子束轰击样品表面，对溅射出的二次离子进行质谱分析的高灵敏度表面分析技术。

三维原子探针 (APT) 技术的基本原理为电压脉冲下的表面原子受控场蒸发，它是目前唯一能够在近原子尺度上进行三维映射和化学成分精确测量的材料分析技术，优点是可以探测样品在微小区域内所有化学元素的三维分布，包括同位素。

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华南理工大学Florian Vogel教授受邀出席此次会议并作报告，分享了在镍基高温合金研究领域的重要突破。

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在大会报告中，Florian Vogel教授发表了题为《通过定制相合金设计调控镍基高温合金分层微观结构的热稳定性》的精彩报告。他系统介绍了通过相靶向设计结合三维原子探针（APT）等先进表征技术，揭示提升镍基高温合金热稳定性的有效机制。这项研究为高性能高温合金的开发提供了重要理论依据和技术路径，充分展现了三维原子探针技术在材料科学研究中的强大潜力。

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本届会议的大会报告是一次学术盛宴，这两项高端分析技术展现出蓬勃的创新活力与广阔的应用前景，为材料、地质、生命科学等领域的创新提供了关键的技术支持。