2024年10月18日至20日，2024年全国电子显微学学术年会在东莞市会展国际大酒店召开。诺法材料首席科学官，Florian Vogel 教授受邀出席并发表演讲。
Vogel 教授的演讲题目是《先进分析显微技术与层析成像：揭示现代工程材料与工业应用的关键见解》（Advanced Analytical Microscopy and Tomography: Unveiling Critical Insights for Modern Engineering Materials and Industrial Applications）。
本次演讲从层析成像技术的发展历程、同步辐射X光断层成像技术出发，介绍了聚焦离子束（FIB）断层扫描、拥有原子级分辨率的尖端显微技术——三维原子探针（APT），以及它们在高温合金、半导体等行业的产业化应用。
（Excited to share how these techniques are revolutionizing our understanding of metals, alloys, and semiconductors. Grateful for the opportunity to have engaging discussions with colleagues.）
Vogel 教授毕业于德国柏林工业大学材料科学与工程专业，曾在亥姆霍兹科学联合会-柏林研究所担任三维原子探针实验室负责人，在先进显微技术和材料表征方面有14余年的相关经验，曾以第一作者/通讯作者在Nature Communication，Acta Materialia等知名国际期刊发表多篇SCI论文。
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