双束电镜 - Dual Beam Focused Ion Beam（FIB），是双束聚焦离子束-扫描电子显微镜的简称，它是在扫描电镜的基础上加装了离子束系统，并通常附带机械臂（Easy lift）、气体注入系统（GIS）等配件。
这，就是诺法材料自营FIB的样品仓内部环境。
一般来说，电子显微镜的样品台可以同时放置若干个样品进行表征测试。但FIB的样品台与上方多个探头、配件之间距离有限，同时也要保证样品仓内真空度，因此上机检测的样品需符合一定的条件：
✔ 块体、薄膜、粉末颗粒都可以；
✘ 液体、易挥发的材料不适合
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2● 块体样品：高度≤1.5厘米，长宽≤5厘米
● 粉末样品：大小不限，需干燥，且无磁性
● 样品整体高度一致，没有高度差；
● 表面需经过磨抛处理，光滑不粗糙（除非有特殊的表征需求）；
● 形状不规则的样品可以镶样后再进行磨抛处理；
● 冷镶嵌：对温度及压力极敏感的材料，以及微裂纹的试样，应采用冷镶的方式。
● 热镶嵌：适用于对压力及热不敏感的材料。
● 对于表面导电性不佳的样品，可以预先做喷金处理，常用的靶材有金(Au)、铂(Pt)、碳(C)等；
● 喷金之后，需保护好表面，避免与其它样品或容器发生摩擦、粘连等情况，可选择零件盒或合适大小的保护盖 👇👇👇
以下是各种材料样品的示例，欢迎联系我们详细沟通 🤝
△ 我司自营的双束聚焦离子束-扫描电镜
(Duel Beam Focused Ion Beam, FIB)
设备型号：赛默飞 Helios 5 CX
（配有EDS及SEM-STEM探头）
~ 欢迎联系我们预约制样/测试 ~
林工
13250344454
广东省诺法材料科技有限公司专业从事分析电镜和材料测试工作，专注于高分辨率表征技术（SEM、FIB、TEM、EBSD、APT...）。我们的国际化专家团队熟练运用现今顶尖科技的仪器设备和科学方法来进行高水平研究和数据处理。
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