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研究背景
文章简介
此外,残余的Cu-Sn ICL 具有优异的机械完整性,能够抵抗在锂化/去锂化过程中产生的塑性变形。因此,金属Sn负极在Cu-Sn ICL的辅助下 (Cu-Sn@Sn) 表现出了优异的循环稳定性 (1000圈的容量衰减率为0.03%/圈)。
该文章第一作者为中佛罗里达大学博士研究生王冠芝
杨阳教授为本文通讯作者
要点解析
图1.
图2. Cu-Sn@Sn电极的表面形貌,结构以及机械性能表征。
图3. Cu-Sn@Sn薄膜的电化学动力学分析。
由图3b在不同扫速下得到的CV曲线,计算得到在0.1 mV s-1 扫描速率下,Cu-Sn@Sn的电容行为对总体能量存储的贡献为58.1%(图3c),与金属Sn电极的结果接近(55.1%),这证明Cu-Sn涂层不但没有阻塞Li+的扩散路径,反而促进了电极材料的电化学反应动力学。
图3d中为样品的EIS图谱,Cu-Sn@Sn的电荷转移电阻明显小于Sn, 说明通过Cu-Sn涂层建立了高效的电荷转移界面。
图3e,f中为Cu-Sn@Sn的GITT以及计算所得的Li+扩散系数, Cu-Sn@Sn具有与Sn相似的Li+扩散系数,再次证明Cu-Sn锂化反应的低活性没有阻塞Li+的扩散。另外,Cu-Sn@Sn的Li+扩散系数在锂化/去锂化过程中相较Sn更加的稳定,证明借助Cu-Sn 涂层改善了材料的结构完整性,有助于Li+的扩散。
图4.
图5. 原位TEM和非原位SEM。
结论
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